판매용 중고 PHILIPS / FEI Titan 80-300 #9241048
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ID: 9241048
빈티지: 2010
Probe corrected Scanning / Transmission Electron Microscope (STEM)
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Titan 80-300은 재료 과학, 생명 과학 및 나노 기술의 고급 이미징 응용 분야를 위해 설계된 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 초저진공 설계로 전자 빔 에너지 (electron-beam energy) 를 낮출 수 있으므로 공간 해상도가 높고 명암이 개선되었습니다. 단색 전자 이미징과 결합 된 이중 빔 기능은 FEI Titan 80-300을 나노 구조 및 반도체 장치를위한 이상적인 이미징 도구로 만듭니다. PHILIPS Titan 80-300에는 x 및 y 방향으로 최대 200mm 이동이 가능한 스테이지가 있습니다. 이 단계에서는 자동 패턴화와 더 높은 처리량 이미징을 사용할 수 있습니다. 현미경에는 다양한 유형의 데이터 (예: Cathodoluminescence (CL), Secondary Electron (SE) 및 BSE (Backscatter Electron) 이미저) 를 이미징 할 수있는 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. 이들 "탐지기 '는 모두 현미경 의 안정적 인 작동 을 보장 하기 위하여 냉각 된다. Titan 80-300에 사용 된 전자 소스는 LaB6 필라멘트로, 10 나노 미터에서 30 나노 미터 사이의 전류 출력을 생성 할 수 있습니다. 전자 빔은 자기장에서 가속되어 1 keV ~ 30 keV 범위의 전자 에너지를 산출합니다. 이렇게 하면 연산자가 시스템을 세밀하게 조정하여 해상도와 명암비를 최적화할 수 있습니다. 필립스/페이 타이탄 80-300 (PHILIPS/FEI Titan 80-300) 은 조정 가능한 작업 거리와 자동 초점 기능을 제공하여 운영자가 쉽게 다른 샘플에 액세스 할 수 있습니다. 또한, 현미경에는 Z축 정렬 및 샘플 틸트 (tilt) 와 같은 작업을 수행 할 수있는 5 축 동력 스테이지가 장착되어 있습니다. FEI Titan 80-300의 고급 고해상도 이미징 시스템은 동급 최고의 성능과 유연성을 제공합니다. 향상된 다크 명암비 (Dark Contrast) 이미지 기능으로, 이미지 처리 기술없이 최신 세부 사항에서 샘플을 관찰할 수 있습니다. 저가속 전압 및 빔 전류는 총 용량을 낮추고, 샘플 손상 및 분해를 최소화합니다. PHILIPS Titan 80-300에는 고급 자동화 패키지도 있습니다. 여기에는 자동 샘플 로드 및 포지셔닝, 작업 회수, 이미지 스티칭, 이미지 획득 및 분석 자동화 등이 포함됩니다. 이렇게 하면 샘플이 더 넓은 영역을 커버하기 위해 여러 이미지를 필요로 하는 작업에 기구가 이상적입니다. 또한, Titan 80-300 은 현재의 네트워크 실험실 시스템과 완벽하게 통합되어, 간편하고 안전한 데이터 전송 및 이미지 저장 기능을 제공합니다. 따라서 다중 사용자 연구 환경에 적합한 툴이 됩니다. 요약하자면, PHILIPS/FEI Titan 80-300은 뛰어난 이미징 기능을 갖춘 강력한 도구로서, 연구자들은 탁월한 명암과 해상도를 지닌 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 다양한 자동화 기능과 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 를 갖춘 이 기기는 가장 까다로운 어플리케이션을 위한 완벽한 이미징 플랫폼을 제공합니다.
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