판매용 중고 PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293829494

PHILIPS/FEI Titan 80-300은 재료 과학, 생명 과학, 나노 재료 연구 및 반도체 분석에서 뛰어난 해상도, 고급 이미징 기능 및 다재다능한 응용 분야로 유명한 최첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 전자 현미경 기술의 정점을 나타내며, 다양한 분야의 연구원들과 과학자들에게 고성능 이미징 (imaging) 과 분석 (analysis) 기능을 제공합니다. FEI Titan 80-300의 중심에는 전자 빔 열 (electron beam column) 이 있으며, 이는 뛰어난 밝기와 안정성을 가진 집중된 전자 빔을 생성합니다. 이 전자 빔은 나노 스케일 (nanoscale) 에서 고해상도 이미징을 가능하게하며, 샘플의 미세 구조 및 화학 조성에 대한 전례없는 통찰력을 제공합니다. 현미경에는 매우 일관적이고 강렬한 전자 빔을 보장하는 FEG (field emission gun) 가 장착되어 있어 이미지 품질과 신호 대 잡음 비율이 우수합니다. PHILIPS Titan 80-300은 고해상도 이미징, 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS), 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 및 전자 에너지 손실 분광법 (EELS) 을 포함한 다양한 이미징 모드를 갖추고 있습니다. 이러한 고급 이미징 기술을 통해 연구자들은 표면 형태, 원소 구성, 결정 학적 구조, 공간 해상도 및 민감도가 높은 샘플의 전자 특성 (electronic properties) 에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. Titan 80-300의 주요 강점 중 하나는 탁월한 해상도 기능입니다. 고휘도 전자원, 첨단 전자광학 (advanced electron optics), 정교한 탐지기 시스템을 통해 현미경은 나노미터 (sub-nanometer) 해상도를 달성하여 연구원들이 원자 척도에서 구조와 특징을 시각화 할 수 있습니다. 이 분해 수준은 특히 복잡한 아키텍처를 가진 나노 물질, 촉매, 고분자 및 생물학적 샘플을 연구하는 데 유용합니다. 이미지 처리 기능 외에도, PHILIPS/FEI Titan 80-300 은 다양한 연구 애플리케이션에 대한 다양한 기능을 향상시키는 고급 분석 툴을 갖추고 있습니다. EDS 시스템은 원소 분석 및 매핑을 허용하며, 연구원은 샘플에 존재하는 화학 원소를 식별하고 정량화 할 수 있습니다. EBSD 시스템은 재료의 방향 및 위상 분포에 대한 결정 학적 정보를 제공하는 반면, EELS 시스템은 샘플의 전자 구조 및 결합 특성에 대한 통찰력을 제공합니다. FEI Titan 80-300 은 직관적인 소프트웨어 인터페이스, 자동화된 이미징 루틴, 맞춤형 데이터 분석 툴을 통해 사용 편의성과 생산성 향상을 위해 설계되었습니다. 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 연구원들은 실험을 설정하고, 데이터를 수집하고, 교육을 최소화하며, 워크플로우 효율성과 생산성을 극대화하는 복잡한 분석을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 필립스 타이탄 (PHILIPS Titan) 80-300은 최첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 과학 응용 분야에 탁월한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging), 고급 분석 도구 (Advanced Analytical Tools), 사용자 친화적 인 인터페이스 (User-Friendly Interface) 를 통해 현미경은 나노 스케일 세계를 탐험하고 재료의 특성과 행동에 대한 새로운 통찰력을 풀기위한 강력한 도구 역할을합니다.