판매용 중고 PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293817325

PHILIPS/FEI Titan 80-300은 높은 배율에서 고해상도 이미징, 원소 분석 및 x- 선 이미징을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 초고성능의 현미경으로, 이미징 (Imaging) 을 위한 고해상도와 나노미터 (Nanometer) 수준까지 재료를 분석한다. 이것은 재료 과학, 생물학, 마이크로 일렉트로닉스, 반도체 제작 등 다양한 분야의 응용 분야에 이상적입니다. FEI Titan 80-300은 구형 수차를 줄이기 위해 30 ° 로 기울어진 고해상도 단색 전자원을 사용합니다. 이렇게 하면 다양한 배율에 걸쳐 이미지 선명도 (Image Clearity) 와 넓은 깊이 (Field Of Field) 가 향상됩니다. SEM 의 무장력 (tension-free) 설계는 안정적인 이미징을 보장하는 반면, 장기 드리프트 (drift) 수정 기능은 이미지의 색상 차이가 시간이 지남에 따라 일관성을 보장합니다. PHILIPS Titan 80-300에는 고급 백스캐터 이미징 기술도 있습니다. 이를 통해 사용자는 물질 표면에서 검출기 (detector) 쪽으로 반사된 전자를 검출하여 높은 해상도로 비전도성 (non-conductive) 물질을 볼 수 있습니다. 이것은 박테리아, 바이러스 입자와 같은 생물학적 샘플을 이미징하는 데 이상적입니다. Titan 80-300에는 x-ray 기능도 있습니다. 표본에서 x- 선 신호를 감지하면, 사용자는 원소 맵을 생성하고, 표본의 다양한 요소의 분포를 분석할 수 있습니다. 이것은 분자 구성 (예: 반도체 연구 및 개발 분야) 을 연구하는 데 중요합니다. 마지막으로, PHILIPS/FEI Titan 80-300은 처리량을 향상시키고 사용자 피로를 줄이기 위해 설계된 다양한 자동화 기능을 제공합니다. 예를 들어, 이미지 스티칭 자동화 기능 (Automated image stitching function) 은 큰 시야의 이미지를 컴파일할 때 연구원들의 시간을 절약할 수 있으며, 자동 표본 로딩은 이미징을 위한 샘플을 정확하게 배치하기 쉽습니다. 결론적으로, FEI 타이탄 80-300 (FEI Titan 80-300) 은 나노 미터 수준에서 원소 분석 및 이미징에 이상적인 다양한 기능과 기능을 갖춘 고도의 스캐닝 전자 현미경입니다. 다양한 분야에서 연구원을위한 강력한 도구입니다.