판매용 중고 PHILIPS / FEI TF30 #293830548

PHILIPS/FEI TF30은 2 차 및 후면 분산 전자 영상을 사용하여 조명 샘플 표면의 고해상도 이미지를 생성하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 최대 5 밀리미터 (5mm) 의 작업 거리와 최대 20 밀리미터 (20mm) 의 시야를 통해 나노미터 이하의 해상도 이미지를 제공 할 수 있습니다. 이 다재다능한 기기는 고장 분석, 재료 특성, 반도체 도량형, 생물학적 이미징과 같은 응용 분야에 사용하도록 설계되었습니다. FEI TF30은 고급 렌즈 내장 스캔 기술을 사용하여 최대 심도 (depth-of-field) 로 최적화된 SEM 이미지를 제공합니다. 이를 통해 최소한의 산만 시차 (distracting parallax) 또는 수차 아티팩트 (aberration artifact) 로 조명 샘플을 명확하게 표시할 수 있습니다. 이 장비에는 빛과 전자 이미지의 분석을 가능하게하는 샘플 분석 시스템 (SAS) 과 재료 측면 힘 현미경 (LFM), X- 선 요소 매핑 (XRF) 및 분광 이미징 (SI) 과 같은 고급 분석 기술이 포함됩니다.). 또한 PHILIPS TF30은 가속 전압, 검출기 응답성, 빔 드리프트 보상 등 SEM의 작동 매개변수를 자동으로 조정하고 재보정하는 자동 (Autotune) 기능 (옵션) 을 제공합니다. 따라서 이러한 설정을 수동으로 조정하지 않고도 샘플 분석 응용 프로그램을 빠르게 전환할 수 있습니다. 매우 강력한 모터 단위인 TF30 (TF30) 은 높은 정확도와 반복성을 가진 가장 복잡한 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이 기계에는 진동 유발 불안정성을 줄이기 위한 고급 진동 댐핑 기능 (Advanced Vibration Damping Features) 과 가장 어려운 SEM 응용 프로그램에서 최고의 신호 대 노이즈 수준을 보장하는 고속 2 차 전자 검출기가 포함됩니다. 또한 PHILIPS/FEI TF30에는 전동 단계, 냉동 및 액체 질소 단계, 무선 컨트롤, 이미지 스티칭 및 애니메이션 렌더링과 같은 다양한 범위의 범위가 있습니다. FEI TF30 은 다양한 애플리케이션에 적합한 고급 SEM 툴로서, 탁월한 해상도와 반복성, 그리고 자동 튜닝 시스템 (Automated Tuning System) 을 제공하여 효율성을 극대화합니다.