판매용 중고 PHILIPS / FEI TF30 #293821941

PHILIPS/FEI TF30은 표본의 고해상도 이미지를 생성하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 시스템은 나노 감지 능력과 초고해상도 이미징을 제공할 수 있습니다. 표본의 구조 세부 사항 (structical detail) 은 전자의 빔으로 샘플을 조명함으로써 드러난다. FEI TF30에는 표본과 상호 작용하기 위해 전자의 고도로 집중된 1 차 빔을 생성하는 FEG (field emission gun) 가 장착되어 있습니다. 1 차 전자와 다수의 역 산란 된 전자 사이의 상호 작용은 샘플의 3 차원 이미지를 생성합니다. 필립스 TF30 (PHILIPS TF30) 은 최대 30 nm의 이미지 명암과 해상도를 갖춘 다양한 정량화 기능을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 원소 라벨링을위한 2 차 전자, 역 산란 전자 및 X- 선 방사선을 생성 할 수 있습니다. 또한 양적 비 파괴 분석을 위해 역 산란 된 전자 Csi 검출기를 생성 할 수 있습니다. TF30은 사용자 친화적으로 설계되었으며, 자동 샘플 스테이지가 제공됩니다. 이를 통해 샘플의 넓은 영역에 대한 자동 스캔 이미징이 가능합니다. FEI 이미징 소프트웨어를 사용하면 고해상도 이미지 라이브 캡처, 음수/양성 누적 이미지 분석, 이미지 분석 등이 가능합니다. 이 표본은 진공 (vacuum) 모드에서 작동하는 동안 샘플이 오염으로부터 보호되는 상태를 유지하는 환경 통제 챔버 (environmental controlled chamber) 에 포함되어 있습니다. 다양한 확장 기능을 갖춘 PHILIPS/FEI TF30은 오브젝트를 최대 100,000X까지 확대할 수 있습니다. FEI TF30은 표본의 고해상도 이미지를 생성하는 신뢰할 수있는 SEM을 찾는 사람들에게 적합한 옵션입니다. 다양한 정량화 기능 (Quantification Capability) 과 이미지 처리 기능 (Suite of Imaging Function) 을 통해 과학 및 상업용 애플리케이션에 적합합니다. 이 강력한 시스템은 가장 집약적인 어플리케이션과 프로젝트에 적합합니다.