판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #9183333

PHILIPS/FEI Tecnai TF20 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 이미징 및 분석 응용을 위해 설계된 고급 실험실 도구입니다. 이 장비는 다양한 배율로 샘플 표면의 고해상도 이미지를 생성하여, 과학자들은 마이크로 스케일 (micro- scale) 샘플과 나노 스케일 (nano-scale) 샘플의 지형, 화학 및 기타 특징을 분석 할 수 있습니다. FEI Tecnai TF20은 디지털 카메라, X- 선 검출기, 가스 검출기, 전자 빔 이미징 및 전자 분광법 기능을 포함한 최신 현대 이미징 기술을 갖추고 있습니다. 이를 통해 사용자는 최대 200,000 배 이상의 배율로 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한, 시스템에는 BSE (Back-Scattered Electron) 신호가 포함되어 있으며, 이 신호는 샘플의 원소 분포에 대한 정보를 제공합니다. PHILIPS TECNAI TF-20에는 열과 워크스테이션의 두 가지 주요 구성 요소가 있습니다. 이 열에는 전원 공급 장치, 전자 소스, 조리개, 편광기 및 STEM (Scanning Transmission Electron Microscope) 을 포함한 전자 광학 구성 요소가 포함되어 있습니다. 워크스테이션에는 이미징, 분석 및 사용자 인터페이스 구성 요소가 포함되어 있습니다. 이 통합을 통해 SEM 운영 매개변수의 신속한 이미지 획득 및 제어가 가능합니다. TECNAI TF-20 (TECNAI TF-20) 은 1 나노 미터 크기까지 샘플의 고해상도 분석이 가능하여 다양한 연구 목적에 이상적입니다. 나노 물질 개발, 생체 광물화 연구, 야금 분석과 같은 응용 분야에 이상적입니다. 이 장비는 품질 제어를 위해 반도체 산업에서 자주 사용됩니다. PHILIPS/FEI TECNAI TF-20은 진공이 필요하지 않은 고해상도 이미징 및 샘플 분석을 제공하는 높은 진공실을 갖추고 있습니다. 이는 이미징 프로세스의 정확성과 신뢰성을 높여줍니다. 향상된 분석 기능을 제공하기 위해 XYZ 샘플 홀더 머신 (sample holder machine) 과 비디오 카메라 (video camera) 를 갖춘 자동 스테이지가 포함되어 있습니다. FEI TECNAI TF-20은 광범위한 연구 및 산업 응용을 위해 설계된 다재다능한 도구입니다. 이 도구는 강력한 이미징 (Imaging) 및 분석 도구로, 연구원들에게 소규모 샘플에 대한 전례없는 수준의 디테일과 통찰력을 제공합니다. 고급 이미징 기술로, SEM 애플리케이션에 널리 사용되는 선택입니다.