판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #293641375

PHILIPS/FEI Tecnai TF20 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 다양한 재료와 응용 프로그램을 이미징하기 위해 설계된 고성능, 고해상도 이미징 장비입니다. 이 SEM 시스템은 사용자 정의 가능한 설계를 제공하여 특정 어플리케이션에 대한 현미경 (microscope) 의 기능을 손쉽게 조정할 수 있습니다. FEI Tecnai TF20은 두 가지 유형의 전자 광학, 즉 전계 방출 및 열온성을 사용합니다. 전계 방출 장치 (Field Emission Unit) 는 다른 전자 광학에 비해 뛰어난 밝기 안정성을 허용하며, 열전계 (Thermionic Machine) 는 더 높은 해상도와 더 효율적인 이미징을 허용합니다. 두 광학 모두 2 차 및 백 스캐터 전자 이미징, 저전압 이미징, 고해상도 이미징 및 저전압 분광법에 사용될 수 있습니다. PHILIPS TECNAI TF-20에는 이미지 품질을 개선하기 위해 여러 가지 고유 한 기능이 있습니다. 여기에는 이중 화면 도구 (Dual-Screen Tool) 가 포함됩니다. 이 도구를 사용하면 샘플의 위쪽 뷰와 아래쪽 뷰에 동시에 액세스할 수 있습니다. 선택적 빔 샘플링 섀도 고노 미터 (shadowgonometer) 는 사용자에게 전자 빔의 입사각도를 정확하게 제어합니다. 샘플 충전을 줄이는 데 도움이되는 고압 가스 분사 자산 (옵션). TECNAI TF-20은 다수의 정교한 서브 나노 미터 움직임을 활용하여 고해상도 이미징을 달성 할 수 있습니다. 여기에는 4 차원 스캔 헤드 (x, y, z 및 z) 가 포함되며, 이는 서브 미크론 수준까지 고정밀 이미징을 제공합니다. 가변 고해상도 이미징 모델; cryo-electron 영상을 가능하게하는 가변 스팟 스캔 cryo-stage. FEI TECNAI TF-20에는 Saturn X-ray 검출기와 Quad-SE 이중 검출기 시스템을 갖춘 고급 이미징 장비가 있습니다. 이러한 이미징 시스템은 다양한 배율로 고해상도 이미징 (High-resolution Imaging) 을 구현하고 다양한 재료와 표면 유형을 볼 수 있습니다. 이 장치는 또한 낮은 드리프트 (drift) 및 지터 (jitter) 특성을 가지고 있으며, 이는 여러 배율에서 샘플의 정확한 영상을 가능하게한다. Tecnai TF20은 고성능, 고해상도 이미징 기능으로 인해 다양한 어플리케이션을 이미징하는 데 이상적인 도구입니다. PHILIPS 테크나이 (Tecnai) TF20은 견고하고 조절 가능한 기능과 이미징 시스템을 통해 뛰어난 디테일, 정확도, 품질로 고품질 이미지를 캡처할 수 있습니다.