판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai T20 #293595306

PHILIPS/FEI Tecnai T20 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 복잡한 세부 사항을 포착하고 샘플의 내부 구조와 구성을 나타내도록 설계된 강력하고 신뢰할 수있는 이미징 장비입니다. 가변 압력 탐지 (Variable Pressure Detection), 특수 이미징 모드 (Specialized Imaging Mode) 와 같은 고급 기능은 광범위한 산업에 이상적인 선택입니다. FEI Tecnai T20 SEM에는 다양한 이미지 기능 및 설정이 있습니다. 전자 총과 전자 돋보기 (magnifier) 로 구성된 전자원 (electron source) 을 사용하여 전자의 빔을 생성하고 이미지를 확대합니다. 그런 다음 빔은 샘플에 초점을 맞추고 캡처된 데이터는 모니터에 전송되어 '디스플레이 (display)' 됩니다. 또한 SEM은 에너지 필터링 이미징, 가변 압력 감지, 역 분산 전자 이미징, 전자 지연 모드 등 전용 이미징 기능을 제공합니다. 가변 압력 탐지기 (variable pressure detector) 는 항공 우주 및 자동차 응용 분야와 같은 연구에서 샘플을 평가하도록 설계되었습니다. 가변 압력 (Variable Pressure) 모드는 조정 가능한 진공을 사용하여 어려운 조건과 환경에서도 견고하고 섬세한 샘플을 관찰합니다. 가변 압력 탐지기 (variable pressure detector) 의 저용량 속도 (low dose rate) 는 충전 효과를 크게 감소시켜 샘플의 섬세한 구조를 유지할 수 있습니다. 필립스 T20 SEM (PHILIPS T20 SEM) 의 이중 진공 모드를 통해 연구원들은 비전도 샘플을 쉽고 정확하게 조사 할 수 있습니다. 이중 진공 기술 (dual vacuum technology) 은 또한 전도성에서 비전도 물질에 이르기까지 다양한 샘플을 스캔 할 수 있습니다. 유연한 이미징 시스템은 대규모 샘플 분석을 위해 타일링 기능도 제공합니다. PHILIPS/FEI T20 SEM의 고해상도 이미징 기능을 통해 작은 회로에서 큰 샘플까지 다양한 샘플을 자세히 분석 할 수 있습니다. 배율 범위는 5x에서 300,000x입니다. 또한 빠른 샘플 스캔, 원자 레벨 시각화, 자동 이미지 획득, 이미지 스티칭 기능 등 다양한 자동 탐색 및 이미징 기능을 갖추고 있습니다. FEI T20 SEM (automated, real-time operation of FEI T20 SEM) 은 표본의 특징을 빠르고 효율적으로 식별하거나 특성화하기 위해 다수의 샘플을 처리할 수 있도록 합니다. 또한 운영 프로세스 동안 모든 이미징 데이터를 기록, 저장하고, 사용자에게 이미지 아카이빙, 보기, 분석 기능을 제공합니다. 전반적으로 PHILIPS Tecnai T20 SEM은 효율적이고 강력한 이미징 머신으로, 복잡한 샘플의 자세한 구조와 구성을 제공합니다. 까다로운 어플리케이션을 위한 품질 이미징 (Quality Imaging) 을 제공할 수 있는 다용도 및 기능으로, 다양한 업계에서 널리 사용되는 선택입니다. 고급 연구 및 이미징을위한 훌륭한 도구입니다.