판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai G2 T12 #9229933

PHILLIPSPHILIPS/FEI Tecnai G2 T12는 수차 교정 Schottky 전계 방출 전자 총을 사용하는 SEM (Art Scanning Electron Microscope) 의 상태입니다. 이 기술은 SEM 의 최고 수준의 해상도와 기능 대비를 가능하게 합니다. 다용도 (Versonability) 와 유연성 (Flexibility) 으로 인해 다양한 실험실 및 연구 응용 프로그램에 이상적입니다. FEI Tecnai G2 T12는 유심 (Eucentric) 고니 오미터 (Goniometer) 를 고유 한 디자인으로 통합하여 현미경의 전체 작업 거리를 확장하고 동시에 챔버를 완전히 밀봉하여 유심 성능 향상시킵니다. 또한 독특한 Motorized Dual Ionoptis Microscopy를 사용하여 이미징 분야를 신속하게 집중하고 운영 속도를 향상시킬 수 있습니다. 고급 T12 열 (column) 설계는 전체 이미징 시스템이 오염으로부터 보호되므로 시간이 지남에 따라 안정적이고 지속적인 이미징 성능을 제공합니다. 이 칼럼은 또한 이미지 스티어링 증가를위한 초고속 디플렉터 시스템 (Ultra Fast Deflector System) 을 갖추고 있으며, 현미경 작동을 위해 향상된 처리량과 유연성을 제공합니다. PHILIPS Tecnai G2 T12는 광범위한 자동화 기능을 갖추고 있으며, 효율적인 샘플 처리 및 사용자 친화적 운영을 위한 간편한 도구를 제공합니다. 예를 들어, 장거리 작업 거리를 빠르고 정확하게 설정하려면 [자동 초점 스캔] 을, 전체 이미징 필드에 대해 매끄럽고 균일한 샘플 패턴은 [자동 스캔 컨트롤] 을 포함합니다. Tecnai G2 T12는 초고해상도 이미징, 3D 이미징, 고감도 이미징, 분석 기능 등 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 현미경은 또한 자동 입자 및 필라멘트 차별을위한 패턴 인식 소프트웨어를 제공합니다. PHILIPS/FEI Tecnai G2 T12는 의료, 산업 및 재료 과학 분야뿐만 아니라 학술 및 산업 연구 응용 분야에도 사용하기 위해 고안되었습니다. 코팅되지 않은 표본, 박막, 생물학적 표본, 높은 종횡비 나노 구조, 기타 나노 구조 등 다양한 샘플을 이미징 및 분석하는 데 적합합니다. FEI Tecnai G2 T12는 측면 해상도, 깊이, 신호 대 잡음비, 픽셀 해상도, 시야각, 명암비 및 전자 빔 감도와 같은 주요 이미징 항목을 제공합니다.