판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #9376693

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin은 연구 및 산업의 나노 스케일 이미징 응용 분야에 사용되는 고성능 전계 방출 스캐닝 전자 현미경 (FE-SEM) 입니다. 고급 현장 배출 (field emission source) 은 사용자에게 높은 처리량과 짧은 주기 (cycle time) 를 가능하게 하며, 동급에서 가장 강력한 악기 중 하나입니다. G2 F30의 높은 해상도는 0.7nm, 작동 거리는 30.0mm이며 5 배에서 300000x로 확대됩니다. 이미징 (imaging), 입자 크기 분석 (particle size analysis), 조성 분석 (composition analysis) 등 다양한 응용 프로그램에 대해 높은 진공 모드와 낮은 진공 모드를 모두 제공합니다. 이 현미경 들 은 많은 수 의 탐지기 를 사용 하여, 관심 영역 에 따라 여러 가지 특징 들 을 포착 한다. "깨어라!" 프로그레시브 스캔 (progressive scan) 기술을 통해 저렴한 디지털 비디오 카메라로 고해상도 이미지를 수집할 수 있습니다. 이 시스템은 MEBES 레이어 제작, 디지털 분석, 이미지 스티칭 등 다양한 자동 이미지 처리 기능을 갖추고 있습니다. G2 F30 (G2 F30) 에는 경사 또는 회전의 각도에서 샘플을 정확하게 배치 할 수있는 완전히 통합 된 기울기/회전 단계가 있습니다. 이 기기 에는 "데이터 '의 준비 와" 프리젠테이션' 을 위한 자동화 된 "소프트웨어 패키지 '와 그 사용자 의 특정 한 요구 조건 에 맞게 사용자 정의 할 수 있는 여러 가지 하드웨어 기능 이 들어 있다. G2 F30 은 작업 (Operation) 및 자동 샘플 인식 (Sample Recognition) 을 단순화하는 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 높은 수준의 확장된 사용 편의성을 제공합니다. 스캐닝 (Scanning) 및 이미징 모드의 범위는 사용자에게 뛰어난 이미지 품질과 제어를 제공합니다. 이 현미경은 또한 빔 에너지 제어 (beam energy control) 를위한 고급 시스템과 혁신적인 소프트웨어 패키지를 제공하여 샘플 준비 프로세스를 완벽하게 제어 할 수 있습니다. 이것은 G2 F30을 나노 스케일 이미징 및 연구를위한 강력한 도구로 만듭니다.