판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293802955

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 고급 연구 및 산업 응용 프로그램의 까다로운 요구 사항을 충족하도록 설계된 고성능, 다용도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 최첨단 장비는 뛰어난 이미징 기능, 분석 기능, 사용자 친화적 운영 기능을 제공하여 다양한 나노 기술, 재료 과학, 생명 과학, 반도체 연구에 이상적입니다. FEI Tecnai G2 F20의 중심에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 있으며, 이는 뛰어난 이미징 해상도와 분석 성능에 높은 밝기와 안정성을 제공합니다. FEG는 작은 프로브 (probe) 크기로 미세하게 집중된 전자 빔을 생성하여 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 샘플의 고해상도 이미징을 가능하게합니다. 이로 인해 PHILIPS Tecnai G2 F20은 생물학적 표본, 나노 물질, 폴리머 및 반도체를 포함한 다양한 물질을 이미징하는 데 적합합니다. Tecnai G2 F20은 고성능 TEM (Transmission Electron Microscopy) 모드를 갖추고 있으며 동일한 플랫폼에서 SEM 및 TEM 이미징을 모두 수행 할 수 있습니다. 이 이중 기능은 연구원들에게 미세 구조 (Microsstructure) 와 표본의 구성 (Composition of Sample) 을 연구하는 종합적인 이미지 처리 기능을 제공합니다. 이 기기에는 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 탐지기 (EDS) 가 장착되어 있으며, 사용자가 고감도 및 공간 해상도로 재료의 화학 성분을 식별하고 정량화 할 수 있습니다. 이미지 및 분석 기능 외에도 PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 샘플 조작 및 특성화를위한 고급 기술을 제공합니다. 이 기구 는 "스포오츠 '화 된" 스테이지' 를 갖추었는데, 이 "스테이지 '는 정확 한 표본 의 위치 와 탐색 을 가능 하게 해 주며, 그 로 인해 사람 들 이 표본 에 관심 있는 특정 지역 을 손쉽게 찾아내고 분석 할 수 있게 해 준다. FEI 테크 나이 G2 F20 (FEI Tecnai G2 F20) 은 또한 통제 된 환경 조건에서 샘플 동작을 연구하기위한 가스 주입 시스템뿐만 아니라 현장 난방 단계 및 냉각 단계를 특징으로합니다. 사용이 편리한 소프트웨어 인터페이스와 직관적인 제어 기능을 통해 PHILIPS Tecnai G2 F20 운영은 간단하고 효율적입니다. 이 장치에는 자동 초점 (Automated Focus), 난시도 수정 (Astigmatism Correction), 빔 틸트 조정 (Beam Tilt Adjustment) 등 다양한 자동 이미징 및 분석 기능이 장착되어 있어 데이터 입수를 간소화하고 생산성을 향상시킵니다. Tecnai G2 F20 소프트웨어에는 이미지 시각화, 데이터 해석 및 보고서 생성을위한 고급 이미지 처리 및 분석 도구가 포함되어 있습니다. 전반적으로 PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 다양한 연구 응용 프로그램에 대한 뛰어난 이미징 해상도, 분석 성능 및 운영 유연성을 제공하는 최첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 첨단 기능, 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface), 다양한 기능을 통해 복잡한 과학적 질문을 해결하고 나노스케일 (nanoscale) 세계에 대한 이해를 향상시키는 강력한 툴이 될 수 있습니다.