판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293768966

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 다양한 과학 및 산업 응용 분야에 고급 이미징 기능을 제공하는 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI Tecnai G2 F20은 전자 현미경 솔루션의 선도적 인 공급 업체 인 FEI Company (FEI Company) 가 설계 및 제조하여 최첨단 기술과 사용자 친화적 인 기능을 결합하여 높은 해상도와 분석 기능을 갖춘 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. 필립스 테크 나이 G2 F20 (PHILIPS Tecnai G2 F20) 의 중심에는 장 방출 전자 총 (FEG) 이 있으며, 이는 영상 및 분석을위한 고광도 전자 빔을 제공합니다. 페그 (FEG) 는 안정적이고 일관된 전자 빔을 생성하여 현미경이 나노 미터 스케일에서 초고해상도 이미징을 달성 할 수 있습니다. 이를 통해 Tecnai G2 F20은 복잡한 구조와 훌륭한 기능을 가진 샘플의 상세한 시각화가 필요한 연구 응용 프로그램에 이상적입니다. PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 다양한 인체 공학적 설계로 사용자 경험과 생산성을 향상시킵니다. 이 현미경에는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 소프트웨어 제어 시스템 (software control system) 이 장착되어 있어 이미징 매개변수를 쉽게 조작하고 제어할 수 있습니다. 또한 자동 초점 (autofocus), 낙인 찍기 (stigmation), 빔 기울기 (beam tilt) 등 다양한 자동 기능을 제공하여 다양한 샘플과 사용자 설정에서 일관되고 안정적인 이미징 결과를 얻을 수 있습니다. FEI Tecnai G2 F20의 주요 기능 중 하나는 고급 이미징 및 분석 기능입니다. 현미경에는 2 차 전자 (SE) 및 BSE (backscattered electron) 검출기를 포함한 여러 개의 검출기가 장착되어 있어, 명암과 세부 사항이 높은 샘플 표면의 영상을 가능하게합니다. 또한 PHILIPS Tecnai G2 F20은 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 전자 에너지 손실 분광법 (EELS) 을위한 기능을 제공하여 샘플의 원소 분석 및 화학적 특성을 제공합니다. 테크 나이 G2 F20 (Tecnai G2 F20) 은 다양한 전문 이미징 모드와 기술을 통해 다용도와 성능을 향상시킵니다. 여기에는 민감한 샘플에 대한 저전압 이미징, 제어 대기의 현장 관측을위한 환경 이미징, 저온에서 이미징 샘플에 대한 cryo-imaging이 포함됩니다. 또한, 현미경에는 특정 연구 요구에 대한 기능을 확장하기 위해 전문 샘플 홀더, 스테이지 옵션, 소프트웨어 모듈 등 추가 액세서리가 장착 될 수 있습니다. 요약하면, PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 정교하고 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 대한 고급 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 고해상도 이미징, 사용자 친화적 인터페이스, 다목적 설계를 갖춘 FEI Tecnai G2 F20은 미세 및 나노 규모의 세계를 정밀하고 자세히 탐색하고 분석하려는 연구자와 엔지니어에게 유용한 도구입니다.