판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293709546

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20은 다양한 재료 과학 응용 분야에 대한 고해상도 이미징 기능을 제공하는 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 도구는 혁신적인 기술과 사용자 친화적 인 기능을 결합하여 연구원들에게 뛰어난 디테일과 정확성으로 샘플을 시각화 (visualize) 하고 분석하는 기능을 제공합니다. FEI Tecnai G2 F20의 주요 기능 중 하나는 고해상도 이미징 기능입니다. 최대 0.2 나노미터 (200 피코미터) 의 해상도로, 이 SEM은 전례없는 선명도와 디테일로 이미지를 캡처 할 수 있습니다. 이 수준의 해상도는 나노 스케일 (nanoscale) 에서 샘플을 연구하는 데 필수적이며, 연구자들은 정밀도가 높은 재료의 표면 형태, 구조 및 구성을 조사 할 수 있습니다. PHILIPS Tecnai G2 F20에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 장착되어 있으며, 이미지 성능 향상을위한 고도로 집중된 전자 빔을 제공합니다. 이 고급 전자원은 안정적이고 고광도 빔을 생성하여 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 가 향상되고 화질이 향상됩니다. 또한 FEG는 뛰어난 빔 안정성 (beam stability) 과 장기적인 안정성을 제공하여 까다로운 이미징 및 분석 작업에 적합합니다. 테크 나이 G2 F20 (Tecnai G2 F20) 은 고해상도 이미징 기능 외에도, 연구원들이 샘플의 구성 및 화학적 특성에 대한 귀중한 정보를 얻을 수있는 고급 분석 기능을 갖추고 있습니다. SEM은 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 파장 분산 X- 선 분광법 (WDS) 검출기를 포함한 다양한 검출기와 호환되며, 이를 통해 마이크로 및 나노 스케일에서 샘플의 원소 분석 및 매핑이 가능합니다. 또한, PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20에는 데이터 획득, 처리 및 분석을 간소화하는 다양한 지능형 소프트웨어 도구가 장착되어 있습니다. 현미경의 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 연구자들은 이미지 처리 모드 (Imaging Mode) 를 효율적으로 탐색하고, 이미징 매개변수를 조정하며, 쉽게 고급 이미지 처리 작업을 수행할 수 있습니다. 이 소프트웨어에는 빠르고 정확한 데이터 입수를 가능하게 하는 정교한 자동화 기능이 포함되어 있어 SEM (High Throughput Imaging and Analysis) 워크플로우에 적합합니다. 또한 FEI Tecnai G2 F20은 작업 중 사용자의 편안함과 편의성을 보장하기 위해 인체 공학적 고려 사항을 고려하여 설계되었습니다. 이 현미경은 정확한 샘플 포지셔닝을위한 동력 단계 (motorized stage) 와 실시간 샘플 모니터링을위한 고해상도 디지털 카메라 (digital camera) 를 특징으로합니다. 또한, SEM에는 다양한 샘플 유형과 크기를 수용하는 다양한 샘플 홀더 (sample holder) 와 챔버 (chamber) 가 장착되어 있어 실험 설정의 유연성이 가능합니다. 전반적으로 PHILIPS Tecnai G2 F20은 강력하고 다양한 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 재료 과학 응용 프로그램에 대한 고해상도 이미징, 고급 분석 기능, 사용자 친화적 인 기능을 제공합니다. 나노 물질, 반도체 장치, 생물학적 샘플 또는 기타 재료를 연구하든, 연구원들은 Tecnai G2 F20에 의존하여 정확성과 효율성을 갖춘 뛰어난 이미징 및 분석 결과를 제공 할 수 있습니다.