판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9195579

PHILIPS/FEI Tecnai F30 스캐닝 전자 현미경은 다양한 분야의 연구원들을위한 강력한 미세 분석 도구입니다. 이 현미경은 수많은 혁신을 결합한 첨단 전자 광학 시스템 (Advanced Electron Optical System) 을 통해 이미징 및 특성화에서 가장 높은 성능을 제공합니다. 시스템의 중심에는 저에너지, 고도로 집중된 빔을 생성하는 필드 방출 전자 총 (field emission electron gun) 이 있습니다. 따라서 최고 수준의 측면 해상도, 뛰어난 필드 깊이, 뛰어난 라인 페어 대비가 가능합니다. 열 디자인은 큰 초점과 뛰어난 CTF (Contrast Transfer Function) 로 반음계 및 구형 수차를 최소화합니다. 또한 현미경에는 고급 InLens 검출기가 있습니다. 이 탐지기는 재포커스가 필요 없는 전자를 포획하며, 민감도 (sensitivity) 와 정밀도 (accuracy) 를 추가로 제공합니다. 이렇게 하면 대용량 영역의 고배율 이미징 (High Magnization Imaging) 과 분석 (Analysis) 모두에 이상적인 선택이 됩니다. FEI F30에는 새로 설계된 반도체 검출기가 장착되어 있어 다양한 이미징이 가능합니다. 이 검출기는 저에너지 전자를 캡처하는 한편, 샘플 내에서 서로 다른 원소를 구별하는 기능을 유지합니다. 즉, 고속 이미징 기능으로 인해 박막을 분석하는 데 매우 적합합니다. 또한, 현미경은 x-ray 검출기, 전자-백-스캐터 검출기, 고각 환형 다크 필드 검출기와 같은 다양한 검출기와 함께 사용될 수 있으며, 이 기능을 더욱 확장합니다. 이러한 기술은 고해상도 원소 분석, 표면 재구성 등 다양한 작업에 유용합니다. PHILIPS TECNAI F 30은 또한 고가속 전압과 긴 작동 거리를 특징으로합니다. 이 조합으로 인해 현미경은 심도가 높은 이미징 (Imaging) 에 적합한 선택으로, 샘플의 선명도가 높아집니다. 따라서 F30 은 다양한 분석 및 이미징 애플리케이션을 위한 탁월한 선택입니다.