판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai F20 #293803556

PHILIPS/FEI Tecnai F20은 연구, 재료 과학 및 장치 분석을 위해 설계된 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 작업장 현미경은 혁신적인 기술, 사용자 친화적 인 컨트롤, 직관적인 이미징 소프트웨어 (Imaging Software) 를 결합하여 연구 실험실에서 높은 성과를 거두었습니다. 이 현미경의 핵심에는 SED (Secondary Electron Detector) 와 결합 된 FEG (Integrated Field Emission Gun) 장비가 있습니다. 이 조합을 통해 초점 깊이가 크게 향상된 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 및 고대비 분석 이미지가 모두 가능합니다. 또한 FEI 테크 나이 F20 (FEI Tecnai F20) 의 이미징 시스템은 동적 변형 제어 (dynamic strain control) 및 이전 모델보다 2 배 큰 깊이 필드의 이점을 제공합니다. 현미경의 또 다른 주목할만한 특징은 통합 ASA (Automated Sample Analysis Unit) 입니다. 이 기계는 독특한 자동 현미경 모드를 제공하여 화학 조성, 물리적 구조, 미세 구조, 결정 방향 (crystalline orientation) 과 같은 표본의 다양한 특징과 특성을 분석할 수 있습니다. FEG 이미징 도구 및 ASA 외에도 PHILIPS TECNAI F 20은 고급 저소음 카메라 자산을 자랑합니다. 이 모델에는 고급 CCD 카메라와 민감한 다중 채널 AD 변환기 (Multichannel AD Converter) 가 장착되어 있어 최고 품질의 이미지만 제작할 수 있습니다. 또한, 테크 나이 F20 (Tecnai F20) 은 다양한 가스 및 환경 옵션 (예: 진공 밀봉 장비) 을 통합하여 다른 가스 환경을 검사 할 때에도 샘플 무결성을 유지하는 데 도움이됩니다. 이 시스템에는 전용 EDS (Energy Dispersive Spectrometer) 장치도 포함되어 있어 샘플의 자동 원소 분석을 신속하게 수행할 수 있습니다. 이 강력한 이미징 머신을 완성하는 것은 직관적인 이미징 소프트웨어 제품군입니다. 이 소프트웨어는 연구, 재료 과학 및 장치 분석을위한 현미경으로 PHILIPS Tecnai F20을 포즈하도록 설계되었습니다. 빠른 워크플로우 (Fast Workflow) 와 다양한 소프트웨어 기능을 통해 사용자는 이 강력한 이미징 툴을 최대한 활용할 수 있습니다. 고급 이미징 기능과 직관적인 작업 흐름의 조합으로, TECNAI F 20은 매우 다양한 스캐닝 전자 현미경입니다. 최고 품질의 이미지를 찾는 연구 실험실에 새로운 수준의 정확성을 더하는, 전례없는 제어, 정밀도, 해상도 (resolution) 를 사용자에게 제공합니다.