판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293639792

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin은 스캐닝 전자 현미경으로, 연구 및 산업 응용 분야에 적합한 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. FEI Tecnai 20 S-Twin은 사용자가 동일한 샘플에서 이미징 및 분석을 모두 수행 할 수있는 이중 빔 기기이며, 스캐닝 빔은 고해상도 이미지를 생성 할 수 있고 분석 빔은 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 과 같은 분석 기술에 최적화되었습니다. PHILIPS Tecnai 20 S-Twin을 사용하면 고해상도 및 저진공 (< 4x10-3 Pa) 을 포함한 다양한 이미징 모드를 활용할 수 있습니다. Tecnai 20 S-Twin에는 다양한 조정 가능한 매개 변수가 있어 샘플의 고해상도 이미징이 가능합니다. 여기에는 픽셀 샘플링 속도 (1nm) 와 최대 작동 배율 (400kX) 이 포함됩니다. 또한 스펙트럼, 위상, 광대역 등 여러 필터를 적용할 수 있습니다. 또한 PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin에는 편향 제어, 위치 제어 및 편향 안정제와 같은 다양한 빔 제어 기능이 장착되어 있습니다. 이 장비를 사용하면 전자 단층 촬영을 사용하여 3 차원 이미지를 생성 할 수도 있습니다. 표본 조작을 위해 FEI Tecnai 20 S-Twin은 6 축 전동 샘플 공급 시스템뿐만 아니라 기울기 및 편각 제어를 갖추고 있습니다. 또한, 자동 위치 태그 지정 및 샘플의 대화식 시각화 등의 기능을 사용할 수 있습니다. PHILIPS Tecnai 20 S-Twin에는 결과 분석을위한 고급 AI 분석 알고리즘도 장착되어 있습니다. 이미지 처리 기능 외에도 Tecnai 20 S-Twin에는 다양한 샘플 준비 옵션이 있습니다. 여기에는 여러 샘플 홀더, 자동 샘플 선택 및 로딩이 포함되며, 이는 잠재적 인 표본 손상을 줄입니다. 또한, 임계 점 건조 (critical point drying), 화학 세척 (chemical cleaning) 또는 이온 밀링 (ion milling) 과 같은 다양한 표본 준비 기술도 사용할 수 있습니다. 전반적으로 PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin은 다양한 연구 및 산업 응용 분야에 적합한 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 조정 가능한 매개변수 (parameter) 와 샘플 조작 (sample manipulation) 기능을 갖춘 이 기기는 높은 수준의 정확도로 다양한 재료를 상세하게 이미징 및 분석할 수 있습니다.