판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai 12 #9359072

PHILIPS/FEI Tecnai 12는 미드레인지 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 고급 기능을 제공합니다. 최대 1.5 nm의 고해상도와 최대 작동 거리 5.3 mm 인 FEI Tecnai 12는 미세 구조 이미징, 반도체 이미징, 결함 분석, 오염 분석 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. PHILIPS 12에는 뛰어난 전자 광학 시스템이 장착되어 있으며, 여기에는 더 높은 전자 방출을위한 전계 방출 건 (FEG), 가변 압력 Schottky 전계 방출 건, 렌즈 내 2 차 전자 검출기, 이중 축 BSE 검출기 및 탈진 코일 배열이 포함됩니다. 이 구성을 통해 사용자는 고해상도, 낮은 확대 이미징, 에너지 필터링 전송 전자 현미경 (EFTEM), STEM, EDS 및 WDS와 같은 고급 분석 기술을 달성 할 수 있습니다. 민감한 검출기는 PHILIPS/FEI 12의 고급 디지털 이미징 시스템에 의해 보완됩니다. 이 시스템은 최대 4800만 픽셀의 대형 이미지를 표시할 수 있으며, 최대 10비트 해상도의 이미지를 캡처합니다. Tecnai 12는 또한 통합 된 ATSA (Automated Tilt Series Analysis) 를 특징으로하여 3D 재구성을 가능하게하기 위해 정해진 각도의 표본을 스캔합니다. 12는 또한 생산성을 향상시키기 위해 다양한 자동 기능을 제공합니다. 자동 표본 교환 (ASE) 은 5 개의 표본을 보유 할 수 있으며, 여러 표본을 연속적으로 관찰 할 수 있습니다. 또한 사용자 친화적 인 터치스크린 인터페이스를 통해 설정을 쉽게 선택할 수 있고, 정밀한 이미지를 자동으로 정렬할 수 있습니다. 가장 좋은 사용자 경험을 위해 FEI 12에는 하중 용량이 크고 진동이 적은 안정적인 샘플 스테이지 (sample stage) 가 포함되어 있어 세라믹 (ceramic) 및 능면체 (rhombohedral) 재료 또는 중극성 재료와 같은 무거운 표본에 적합합니다. 무대에는 무대 크기가 560 x 400 mm 인 대형 표본 챔버와 큰 표본의 경우 최대 5.3 mm (작업 거리) 가 있습니다. 필립스 테크 나이 12 (PHILIPS Tecnai 12) 는 하이엔드 계기의 힘과 사용하기 쉬운 사용자 인터페이스를 결합한 인상적인 중급 스캐닝 전자 현미경입니다. 다재다능한 디자인으로 다양한 어플리케이션에 적합하지만, 전기 안전 (Electrical Safety) 기능, 고급 탐지기 (Advanced Detector) 및 자동 기능 (Automated Function) 은 모든 실험실에 적합한 툴입니다.