판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 650 #293621244

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ID: 293621244
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Automation (2) BRUKER XFlash-5030 EDS X-Ray spectroscopy Tungsten filament Texture analysis Chamber scope for real time observation Environmental: Hi-vac, Lo-vac Monitor Display Operating system: Windows Detectors: EVERHART-THORNLEY Secondary Quad solid state BSE Low vacuum SED (Large field) Gaseous SED (GSED) 5-Axis motorized stage: X: 150 mm Y: 150 mm Z: 65 mm R: n x 360° T: - 5° to 70° Hold up to 14 polished block (30 mm2 round) or 12 polished thin sections Vacuum mode: High vacuum: (<6*e-4 Pa) Low vacuum: (10-130Pa) and ESEM(10-2600 Pa) Air-cooled turbo with mechanical PVP Manual Tungsten emitter: 1-30 kV.
PHILIPS/FEI Quanta 650은 고급 이미징 및 분석을 위해 설계된 고성능 스캐닝 전자 현미경입니다. 가변 압력, 초고진공 (ultra-high vacuum) 및 저진공 (low vacuum) 모드에서 작동하며 유연성, 신뢰성 및 장기 유지 관리 비용이 낮습니다. 액체 금속 이온 원 (LMIS) 은 영상 및 분석을위한 고도로 집중된 전자 빔을 생성하는 데 사용됩니다. 빔은 0.01 pA ~ 20 nA 사이의 조정 가능한 전류를 가진 1 nm 프로브 크기와 3 kV의 착륙 전압을 제공합니다. 이를 통해 이미징의 경우 0.6 nm, 분광의 경우 0.4 nm의 해상도를 허용합니다. 이미징 시스템은 밝은 필드 (field), 어두운 필드 (dark field) 및 차등 대비 이미징 (differential contrast imaging) 뿐만 아니라 다양한 탐지기로 매장 된 인터페이스를 시각화하도록 설계되었습니다. 또한 자동 샘플 위치 및 정렬을 위한 지능형 자동화를 제공합니다. FEG (Integrated Field Emission Gun) 는 매우 안정적이고 집중된 빔을 빠르게 생성 할 수 있습니다. FEG 빔은 0.15 ~ 0.2 nm의 해상도를 제공하여 나노 구조의 매우 상세한 이미징을 허용합니다. X- 선 분광법, 전자 에너지 손실 분광법 (EELS) 및 에너지 필터링 이미징 (EFI) 을 포함한 다양한 분석 도구를 사용할 수 있습니다. EELS (EELS) 는 원자 수준에서 샘플의 화학 및 형태 학적 분석을 제공하는 반면, EFI는 복잡한 샘플에서 무거운 원소의 선택적 영상을 제공합니다. 또한 강력한 SPU (signal processing unit) 를 통해 스캐닝, 분광법 및 기타 기술을 완벽하게 자동화할 수 있습니다. 또한 SPU 는 결과의 통계적 분석을 포함하여 측정/분석에 있어 귀중한 피드백을 제공합니다. FEI Quanta 650에는 샘플 자동 조작을위한 로봇 시스템도 장착되어 있습니다. 표본 을 정확 하게 조작 하여 가장 구체적 인 분석 을 수행 할 수 있도록 "샘플 '을 적재, 언로드 (unload) 하는 데 사용 할 수 있다. 이 시스템은 결과의 반복성을 향상시키고, 분석 시간을 단축하는 데 도움이 됩니다. 전반적으로, PHILIPS Quanta 650은 강력하고, 효율적이며, 매우 정확한 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 이미징 및 분석 작업에 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다. 첨단 이미징, 분석 기능, 로봇 시스템과 결합된 LMIS 및 FEG 빔 소스 (beam source) 의 조합은 연구 및 산업 응용에 이상적인 선택입니다.
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