판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 600 #9184612

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ID: 9184612
Scanning electron microscope (SEM) ETD and BSED detectors OXFORD EDS Micro-analyzer (3) INCA PentaFET.
PHILIPS/FEI Quanta 600은 최고 수준의 해상도를 제공하기 위해 빔 기술의 독특한 조합을 활용하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM은 나노 입자, 나노 결정체, 금속 및 중합체를 포함한 다양한 물질을 특성화하는 데 사용됩니다. 또한 표면 지형, 결정 결함 및 곡물 경계를 연구하는 데 사용됩니다. 이 SEM에 의해 생성 된 고해상도 결과는 필드 에미터 (field emitter) 를 포함한 여러 빔 (beam) 기술로 가능하며, 샘플 충전 없이 고품질 이미징을 허용합니다. 낮은 샘플 손상 및 향상된 이미징 품질을 제공하는 가변 압력 이온 소스; 이미지 흐림을 줄이는 데 도움이되는 필드 방출 총 기술. FEI Quanta 600 (FEI Quanta 600) 은 전자 빔의 독특한 조합을 갖춘 이중 빔 스캔 전자 현미경으로, 각각 독립적으로 제어하여 매우 높은 해상도의 3D 이미징을 사용할 수 있습니다. 현미경은 고급 빔 포커싱 시스템을 특징으로하며, 이는 미세한 세부 사항을 이미징 할 수 있습니다. 또한, 더 복잡한 샘플을 준비하기 위해 스퍼터링 (sputtering) 과 같은 다양한 샘플 준비 기술을 사용할 수 있습니다. 이 SEM은 또한 연약하고 유기적인 물질을 연구하기위한 전문 작업 인 가변 압력 환경 이미징 (variable pressure environmental imaging) 과 같은 고급 이미징 모드를 갖추고 있습니다. 또한, 나노 스케일 기능의 고대비 이미징을 허용하는 디지털 산화물 필드 에미터 현미경 탐지기 (microscope detector) 가 장착되어 있습니다. PHILIPS Quanta 600은 3 개의 독립적 인 스캐닝 전자 빔을 갖춘 고급 디자인으로 유명합니다. 이를 통해 단일 스캔을 통해 여러 샘플을 동시에 이미징할 수 있으므로 처리량이 크게 향상됩니다. 현미경은 또한 QAS (Quantum Analysis Software) 와 같은 이미지 분석 및 조작을위한 포괄적 인 소프트웨어 제품군을 제공합니다. 이 소프트웨어에는 이미지 측정, 제어 및 분석을위한 고급 기능이 포함되어 있습니다. Quanta 600 SEM은 고급 전자 현미경을위한 인상적인 장치로, 연구원들에게 최고 해상도, 다양한 이미징 모드, 이미지 조작 및 분석을위한 가장 포괄적 인 소프트웨어 패키지 (소프트웨어 패키지) 를 제공합니다. 나노 기술 (nanotechnology) 의 특정 응용 프로그램과 함께 복잡한 재료를 특성화하기위한 강력한 도구입니다.
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