판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 400 #9192630

PHILIPS/FEI Quanta 400은 FESEM (field emission scanning electron microscope) 으로 다양한 샘플의 고대비 이미지를 생성 할 수 있습니다. FESEM 기법은 필드 방출 원 (field emission source) 에서 생성 된 전자 빔을 사용하여 샘플의 표면을 스캔하고 이미지를 생성합니다. FEI Quanta 400은 최대 0.6 nm (최대 0.6 nm) 의 초점 및 해상도로 세밀하고 고대비 이미지를 제작하도록 설계되었습니다. 현미경의 디자인에는 커스텀 디플렉터 코일 (custom deflector coil) 과 전자 건 (electron gun) 이 포함되어 있어 넓은 샘플 영역에서 최적의 빔 안정성을 제공합니다. PHILIPS Quanta 400의 FES (Field Emission Source) 는 또한 ~ 0.8nm 직경의 전자 빔을 생성하며, 이는 샘플을 향하고 래스터 패턴으로 스캔하여 이미지를 생성합니다. 고대비 이미지를 생성하기 위해 Quanta 400은 VPM (Variable Pressure Mode) 에서 작동하여 표면 충전이 감소하고 샘플의 표면 해상도가 향상됩니다. 또한 거친 표면을 가진 샘플의 최적의 성능을 위해 LV (Low Vacuum) 모드로 작동합니다. 또한 PHILIPS/FEI Quanta 400에는 이미지 품질 및 해상도를 향상시키는 데 사용할 수있는 IPU (Image Processing Unit) 가 포함되어 있습니다. 이미지 처리 기능에는 밝기 및 대비 제어, 흰색 레벨 조정, 감마 조정, 선명도/가장자리 향상, 노이즈 감소 등이 있습니다. FEI Quanta 400은 재료 과학, 반도체 연구 및 화학 연구와 같은 과학 분야에서 널리 사용됩니다. 고해상도 이미지 (High Resolution Image) 의 생성 능력은 다양한 확대 (Magnification) 를 통해 연구 프로세스 및 실험 절차에 유용한 툴이 됩니다. 전반적으로, PHILIPS Quanta 400은 강력하고 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 샘플의 고품질 이미지를 생성 할 수 있습니다. 가변 압력 모드 (Variable Pressure Mode), 현장 방출 소스 (Field Emission Source) 및 이미지 처리 기능을 통해 다양한 과학 및 엔지니어링 애플리케이션에 이상적인 선택이 가능합니다.