판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 3D #9163606

ID: 9163606
Dual Beam Tungsten FIB / SEM.
PHILIPS/FEI Quanta 3D는 다양한 분야의 연구에 사용되는 다양한 Scanning Electron Microscope (SEM) 입니다. 초고해상도 이미징 (고해상도) 과 분석 (analysis) 이 가능하여 나노 스케일 세계를 탐험하는 데 귀중한 도구다. FEI Quanta 3D는 전자원에 혁신적인 필드 방출 건 (field emission gun) 을 사용하여 탁월한 해상도를 제공합니다. 초고속 감지, 0.2nm (단계 크기) 의 5축 스캔 모듈을 통해 샘플의 신속한 정보 밀도 (Information-dense) 적용 범위를 확보하고 최대 화질을 보장합니다. 또한, 내장 된 저 진공 샘플 챔버 (low-in low-vacuum sample chamber) 는 초고 진공에서 가변 압력에 이르기까지 다양한 환경에서 샘플을 연구 할 수 있습니다. PHILIPS Quanta 3D는 고감도 EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 검출기를 특징으로하며, 이는 뛰어난 원소 감도를 가진 샘플의 구성 데이터를 얻을 수있는 반면, 초안정 이미징 기능은 최소 설치성을 갖춘 안정적인 고대비 이미지를 제공합니다. 또한 시료 표면의 고감도 이미징을 제공하는 렌즈 내 2 차 전자 검출기 (in-lens secondary electron detector) 를 통해 표면 특징을 정확하게 식별하고 매핑 할 수 있습니다. Quanta 3D에는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 가 있으며, 이는 모든 경험 수준의 직원이 운영하는 데 적합합니다. 간소화된 소프트웨어로 자동화된 워크플로를 쉽게 설정할 수 있으며, 이미지 빼기, 스티칭, 고급 이미지 분석, 3D 재구성 등의 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. 요약하면, PHILIPS/FEI Quanta 3D Scanning Electron Microscope는 연구를위한 귀중한 도구이며, 성능과 사용성의 탁월한 조합을 제공합니다. 초고속 스캔 모듈, 고해상도 이미지 (high-resolution image), 구성 분석 (compositional analysis) 및 자동화된 워크플로우 (automated workflow) 를 통해 다양한 샘플을 세부적으로 탐색할 수 있습니다.
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