판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 3D #293813482

ID: 293813482
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI Quanta 3D는 다양한 고해상도 이미징 응용 프로그램을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최대 30 kV의 전압, 최대 40 kV의 최대 가속 전압에서 최대 0.7 나노미터의 탁월한 해상도로 이미지를 캡처 할 수 있습니다. FEI Quanta 3D는 다양한 기능을 결합하여 뛰어난 이미징 결과를 생성합니다. 3D EDS 검출기는 고감도, 동적 범위를 제공하여 상세한 요소 정보를 제공하는 반면, Super X HD 라이브러리는 재료 구성을 특성화하는 여러 요소를 제공합니다. 또한 샘플 투 샘플 (sample-to-sample) 스캐닝 기능과 자동화된 이미지 스티칭 기능을 통해 넓은 영역의 이미지를 쉽게 캡처할 수 있습니다. PHILIPS Quanta 3D에는 0.7 나노미터까지 초고해상도 이미징을 캡처 할 수있는 초고해상도 GEMINI 열이 장착되어 있습니다. 냉동 또는 건조 된 샘플의 영상을 수행하는 cryo 단계가 있습니다. 또한 VPI (Variable Pressure Imaging) 및 ESEM 모드를 제공하여 전도성이 없거나 젖은 샘플에서 이미징을 사용할 수 있습니다. Quanta 3D의 고급 소프트웨어 및 자동화 기능은 직관적인 사용 및 데이터 처리를 용이하게 합니다. 여기에는 현미경 설정을 자동화하고 빠른 이미지 캡처를 지원하는 NaviSEM 소프트웨어가 포함됩니다. 이 프로그램은 또한 2 차원 및 3 차원 이미지 시각화를 가능하게합니다. FEI AnalySIS 소프트웨어는 PHILIPS/FEI Quanta 3D 가 캡처한 데이터를 분석하여 사용자가 이미지 매개 변수를 보고 보고서를 생성할 수 있도록 합니다. FEI Quanta 3D는 다양한 이미징 응용 프로그램에 적합한 다용도 도구입니다. 다목적 샘플 스테이지와 고급 이미징 모드는 섬세하고 전도성이 없는 표본을 이미징 할 수있는 기능을 제공합니다. 이것은 유기 및 무기 재료 이미징, 재료 구성 정량화, 샘플의 결정성 모니터링, 표면 거칠기 분석 등 다양한 유형의 재료 특성화를위한 훌륭한 도구입니다.
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