판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 3D SFEG #9315869

PHILIPS/FEI Quanta 3D SFEG는 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEG (Field Emission Gun) 의 탁월한 성능과 향상된 이미징 기능을 위한 혁신적인 3D 디자인을 결합했습니다. FEI Quanta 3D SFEG의 고해상도는 0.5nm이며, 광학 현미경보다 최대 2000 배 높습니다. 이것은 나노 물질 및 단백질을 포함한 작은 입자를 분석하는 데 이상적입니다. PHILIPS Quanta 3D SFEG에는 다양한 샘플 크기를 이미징 할 때 이미지 안정성과 정확성을 향상시킬 수있는 통합 열이 있습니다 (영문). 이 기둥은 낮은 전자 전압에서 스캔 할 때에도 높은 밝기, 안정적인 빔을 제공하는 페그 (FEG) 로 구동됩니다. 이것은 조밀 한 샘플의 정확한 이미징을 보장합니다. Quanta 3D SFEG는 또한 기존 및 특허를받은 3D 검출기 이미징 감지 모드를 모두 허용하는 고급 전자 검출기를 갖추고 있습니다. 여기에는 특허를받은 Cazin 3D 검출기 이미징 모드가 포함되며, 이는 단백질과 같은 나노 물질에 대한 높은 감도를 제공합니다. 장비는 또한 양전하 (positive charge) 와 음전하 (negative charge) 를 모두 이미지로 구성하여 더 다양한 기능을 제공합니다. 또한, 결합 된 FEG 및 3D 검출 시스템은 EBSD (Electron Backscatter Diffraction) 및 다양한 전자 현미경 영상 기술을 포함한 다양한 영상 기술을 허용합니다. 이것은 PHILIPS/FEI Quanta 3D SFEG를 나노 기술 연구에서 많은 응용 분야에 이상적인 도구로 만듭니다. FEI Quanta 3D SFEG에는 빔 설정을 매우 민감하고 정확하게 제어 할 수있는 통합 빔 제어 장치 (integrated beam control unit) 도 장착되어 있습니다. 여기에는 빔 전류 (beam current), 전압 (voltage) 및 스팟 크기 (spot size) 를 조정하는 기능이 포함됩니다. 마지막으로, PHILIPS Quanta 3D SFEG는 단일 빔 (single-beam) 및 다중 빔 (multiple-beam) 작업을 모두 지원할 수 있으므로 샘플의 여러 지점에서 한 번에 데이터를 수집 할 수 있습니다. 이는 다양한 이미징 애플리케이션의 처리량과 정확도를 높여줍니다. Quanta 3D SFEG는 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 나노 물질 샘플의 정확한 영상을 위해 고해상도, 통합 3D 검출기 이미징 모드 및 빔 제어 머신을 제공합니다.