판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293669806

PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG는 광범위한 재료 및 응용 프로그램의 이미징 및 분석을 위해 개발 된 포괄적인 고성능 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 장치는 뛰어난 유연성, 고급 이미지 처리 기능, 고급 어플리케이션/연구를 위한 견고한 기능을 제공합니다. FEI Quanta 3D FEG는 2 개의 렌즈 시스템과 나노 스케일 필드 방출 건 (FEG) 을 갖춘 독특한 디자인을 가지고 있습니다. 이 조합을 통해 고도의 배율 (Magnizing Power) 과 다양한 해상도를 사용할 수 있습니다. FEG (Field Emission Gun) 는 높은 시야각, 낮은 빔 전류, 매우 낮은 배경 소음 등 여러 가지 장점을 제공합니다. 또한 광범위한 배율과 최대 2 만 배율을 제공합니다. FEG의 긴 수명, 낮은 앰퍼리지, 고해상도는 다양한 이미징 어플리케이션에 적합합니다. PHILIPS QUANTA 3 D FEG (3 D FEG) 는 분석 및 이미징 요구를 모두 충족하여 샘플에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있도록 설계되었습니다. 고급 (Advanced) 소프트웨어는 다양한 방식으로 데이터를 분석하여 사용자가 필요한 결과를 신속하게 액세스할 수 있도록 지원합니다. 현미경은 또한 자동화되어 다양한 이미징 (imaging) 및 분석 매개변수 (analysis parameter) 와 다양한 이미징 모드에 쉽게 액세스 할 수 있습니다. QUANTA 3 D FEG는 또한 2 차 전자 검출기, 역 흩어진 전자 검출기, 추가 에너지 분산 검출기 배열 등 완전한 범위의 검출기를 포함한 다양한 액세서리를 제공합니다. 이것들은 샘플의 원소 구성을 정확하게 측정하고 정량화하는 데 도움이됩니다. 또한, FEI QUANTA 3 D FEG에는 독특한 반자동 샘플 준비 시스템이 있으며, 이는 샘플 환경을 유지하고 샘플 분석 시간을 단축하는 데 도움이됩니다. 마지막으로, 현미경 (microscope) 에는 이미지 크기, 밝기, 명암비 등 모든 현미경 설정을 제어할 수있는 통합 소프트웨어 패키지가 있습니다. 결론적으로 PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG는 종합적인 고성능 Scanning Electron Microscope로, 고급 응용 프로그램 및 연구에 탁월한 유연성, 고급 이미징 기능 및 견고성을 제공합니다. 이 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 나노 스케일의 샘플을 이미징 및 분석하는 데 이상적인 선택입니다.