판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 250 #9195741

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ID: 9195741
빈티지: 2013
Scanning electron microscope (SEM) P/N: 1027641 FEG D8421 Source: Field emission gun assembly With schottky emitter source Resolution: High vacuum mode: 1.2 nm at 30 kV (SED) 2.9 nm at 1 kV (SED) High vacuum mode with options: 1.0 nm at 30 kV 2.5 nm at 30 kV 0.8 nm at 30 kV 3.0 nm at 1 kV 2.3 nm at 1 kV 3.1 nm at 200 V Low vacuum mode: 1.4 nm at 30 kV (SED) 3.0 nm at 3 kV (SED) Low vacuum mode with options: 2.5 nm at 30 kV Extended vacuum mode (ESEM): 1.4 nm at 30 kV (SED) Focus range: 2.5 - 99 mm Magnification: 20x - 2000000x Field of view: High and low vacuum modes: 21 mm Secondary electron (SE) detector 500 pm with standard Axial Gaseous Scanning system: Pixel density: 768 x 512, 1536 x 1024, 3072 x 2048 or 6144 x 4096 Minimum dwell time: 50 ms / pixel Maximum: 25 ms / pixel Electronic scan rotation: n x 360° DCFI (Drift compensated frame integration) P/N / Description FP 6842/22 / Beam deceleration FP 2304/17 / Low-kV SSBSED FP 2304/11 / GAD Low-kV SSBSED FP 2304/16 / ESEM GAD Detector FP 2304/23 / Low-kV, high contrast detector (vCD) FP 2303/00 / Gaseous BS detector FP 6901/30 / Centaurus detector with back scatter tip FP 6902/30 / Cathode luminescence tip for centaurus detector FP 2310/00 / PMT Detector interface FP 6843/52 / 6-Channel detector amplifier FP 2303/04 / Wet stem FP 2300/12 / PELTIER Stage FP 2300/42 / PELTIER / Heating stage control kit 9432 909 96541 / CRYO Can FP 6761/46 / Nav-cam 250 1018263 / Windows 7 support PC FP 2311/01 / Joystick FP 2311/05 / Manual user interface 9432 909 96411 / Compressor 120 V, 60 Hz with 4-liter tank (2) 9425 060 99100 / On-site Training / Supports 4022 404 41091 / Installation labor quanta 250 FEG NA 4022 404 02091 / Installation material quanta 250 FEG NA Voltage: 200 V - 30 kV Beam current: 200 nA 2013 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 250은 고급 연구 및 산업 응용 분야에 적합한 SEM (Line Scanning Electron Microscope) 의 상단입니다. FEI Quanta 250은 강력한 텅스텐 필라멘트 x- 레이 소스와 5 사분면 테일-전자 홍수 총을 사용하여 가장 힘든 1 차 전자 이미징 작업조차도 처리 할 수 있습니다. 이미징 기능은 1 ~ 30 keV 범위의 가속 전압에서 뛰어난 고대비 이미징을 가능하게하는 고해상도, 저진공 열 설계로 더욱 강화되었습니다. 이미지 처리 기능 외에도 PHILIPS Quanta 250에는 열 중앙 아래에 위치한 HARPES 검출기와 자동 분석을위한 GATAN Digital Micrograph 장비를 포함한 여러 EDX 검출기가 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플을 정확하게 식별하고 분석할 수 있으며, 일반 전자 현미경으로는 불가능한 SEM (Type of SEM) 에서 원소 조성을 연구 할 수 있습니다. EDX 검출기는 또한 통합 이미징 및 스퍼터 코터 시스템 (Sputter Coater System) 을 제공하므로 샘플 무결성을 유지하고 최소 샘플 준비로 고해상도 이미지를 전달할 수 있습니다. Quanta 250에 포함 된 다른 기능은 탐지 범위 20nm ~ 5 미크론, 30KV에서 1 나노 미터, 기울기 및 스캔 제어를위한 디플렉터 장치, 통합 진공 펌핑 챔버입니다. 검출기는 또한 패러데이 컵 (Faraday Cup) 과 해상도와 에너지 해상도를 향상시키는 2 차 전자 검출기를 포함 할 수 있습니다. 통합 진공 펌핑 장치 (integrated vacuum pumping unit) 는 사용자가 가장 낮은 진공에서 작동하고, 오염을 최소화하고, 기계의 정확성을 향상시킬 수 있도록 합니다. PHILIPS/FEI Quanta 250은 매우 강력하고 다양한 광원으로, 전자 이미징, 분석 및 정렬 응용 분야에 적합합니다. 광범위한 이미징 기능, EDX 검출기 (EDX Detector), 통합 진공 펌핑 도구 (Integrated Vacuum Pumping Tool) 를 통해 매우 정확한 이미지를 제공할 수 있습니다. 이 제품은 탁월한 이미징 기술과 정교한 디테일이 필요한 모든 연구/산업 응용프로그램을 위한 완벽한 도구입니다 (영문).
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