판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9314362
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ID: 9314362
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)
High vacuum
Low vacuum
Wet modes
Imaging: 1 kV-30 kV
Magnification: 10x-100,000x
Optimal conditions is 3.5nm
Stage: Motorized.
PHILIPS/FEI Quanta 200은 고장 분석, 재료 과학 및 나노 스케일 이미징 응용을 위해 만들어진 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 3D 이미징, 고급 데이터 출력 형식, 소프트웨어 제어 (Software Control) 등 다양한 기능과 기능을 제공하는 고성능 툴입니다. FEI Quanta 200은 다양한 작업을 수행 할 수있는 우아하고, 인체 공학적 기기 디자인으로 설계되었습니다. 현미경은 기존의 SEI (Secondary Electron Imaging), SEBI (Secondary Electron Backscattered Electron Imaging) 및 REI (Reflected Electron Imaging) 와 같은 여러 이미징 모드에서 작동 할 수 있습니다. 또한 저진공 이미징 (LVI), 고해상도 이미징 (HRI) 및 3D 이미징을 제공합니다. 이 장비에는 현미경을 제어하고, 제작된 이미지를 적시에 분석하는 데 사용되는 고급 소프트웨어 (advanced software) 도 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하여 단일 사용자 (Single User) 또는 다중 사용자 (Multi User) 애플리케이션용 시스템을 구성하고 기기의 성능을 모니터링할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 사용자 친화적이고 직관적으로 설계되었으며, 사용하기 쉽고 탐색이 간편합니다. LVI (low-vacuum Imaging) 기능을 갖춘 PHILIPS Quanta 200은 폴리머, 세라믹, 금속 및 기타 재료를 포함한 다양한 샘플에 대한 고해상도 이미징을 제공합니다. 또한 SEBI (Secondary Electron Backscattered Electron Imaging) 모드를 사용하면 표면의 고대비 이미지를 얻을 수 있으므로 표면 분석 및 고장 분석에 이상적입니다. 이 장치는 또한 다양한 자동 기능 (automated features) 을 갖추고 있어 이미징 중에 샘플을 정밀하게 조작할 수 있으며, 수동으로 기기를 조정하지 않고도 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. Quanta 200은 신뢰할 수있는 고성능 스캔 전자 현미경입니다. 첨단 기능과 기능을 갖춘 이 기계는 다양한 이미징, 장애 분석 (failure analysis), 재료 과학 어플리케이션 (materials science application) 에 적합합니다. 직관적인 소프트웨어, 효율적인 기기 설계, 다양한 이미징 모드 (image mode) 를 통해 나노스케일 (nanoscale) 수준의 이미징을 선택할 수 있습니다.
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