판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9163542

PHILIPS/FEI Quanta 200은 고해상도에서 다양한 재료의 이미징, 분석 및 측정을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI Quanta 200은 고급 디지털 신호 프로세서 (DSP) 를 사용하여 샘플 표면의 선명하고 높은 명암의 이미지를 생성합니다. DSP는 또한 이온 빔 현미경 (IBM), 2 차 전자 영상 (SEI), 백스캐터 전자 영상 (BEI) 및 X- 선 미세 분석 (XRM) 과 같은 광범위한 이미지 획득 모드를 가능하게합니다. PHILIPS Quanta 200은 뛰어난 이미지 해상도를 위해 고도로 조화 된 가변 전류, 필드 방출 총을 가지고 있습니다. 총은 최대 30 keV의 2 차 전자 (SEs) 뿐만 아니라 샘플 충전 및 샘플 손상을 피하기 위해 매우 낮은 전압 (최대 60 keV) 에서 백스캐터 전자 (BSE) 를 생성 할 수 있습니다. 이러한 BSE 및 SE 조합은 포괄적인 이미징 및 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. Quanta 200에는 SE 대비 및 스테레오 이미징을위한 가변 각도 BSE 검출기가 있어 3D 재구성이 가능합니다. 또한 PHILIPS/FEI Quanta 200은 정량적 원소, 구성 및 구조 분석을 가능하게 하는 광범위한 XRM (X-ray microanalysis) 기능을 제공합니다. XRM 용량은 최대 400 keV의 X- 선 스펙트럼 감지, 단일 또는 다중 요소, 탄소, 산소, 질소 및 인 및 고급 데이터 처리를위한 우수한 X- 선 마이크로 분석 소프트웨어를 이미징 할 수 있습니다. FEI Quanta 200에는 다양한 유형의 샘플에 적응할 수있는 내장 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDX) 용량도 있습니다. 또한, 필립스 콴타 200 (PHILIPS Quanta 200) 은 금속 및 절연체를 포함한 다양한 물질에 대한 최적의 영상 조건을 제공하는 완벽하게 결합 된 저 진공 환경 시스템을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 향상된 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 을 위해 적절한 수준의 진공을 유지하며, 샘플에 대한 조사 손상으로부터 뛰어난 보호 기능을 제공합니다. 마지막으로, Quanta 200은 고급 디지털 신호 프로세서, 현장 방출 총, 가변각 BSE 검출기 및 X- 선 마이크로 분석 기능을 결합하여 다재다능하고 강력한 연구 기기로 만드는 매우 정교한 스캐닝 전자 현미경입니다. SEM은 다양한 재료의 구성, 구조, 형태를 연구하는 연구원들에게 이상적이며, itsenvironmental protection system은 초고해상도에서 장기 이미징을 가능하게합니다.