판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9148989
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판매
ID: 9148989
3D Scanning Electron Microscope (SEM)
With Focused Ion Beam (FIB)
Secondary electron detector
Backscattered electron detector
Charged-coupled device
Electron dispersive system
Gaseous backscattered detector
EBSD Orientation mapping system
EDAX Detecting unit
EDX Digital controller: 240V
Resolution:
High-vacuum:
3.0nm at 30kV
4.0nm at 30kV
10nm at 3kV
Low-vacuum:
3.0nm at 30kV
4.0nm at 30kV
< 12nm at 3kV
Extended vacuum mode: 3.0nm at 30kV
Accelerating voltage: 200V – 30kV
Probe current: up to 2μA – continuously adjustable.
PHILIPS/FEI Quanta 200은 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 많은 과학분야에서 연구개발 (Research and Development) 분야에서 가장 높은 품질의 결과를 제공하도록 설계된 풍부한 기능과 기능을 갖춘 고급 기구 (High-End Instrument) 다. FEI Quanta 200은 나노 미터 규모에서 다양한 물질의 상세 구조 및 물리적 특성을 관찰 및 분석 할 수있는 cathodoluminescence (CL) 및 secondary electron (SE) 이미징 시스템입니다. 또한 저가압 전압 범위에서도 전자 분광법 (Electron Spectroscopy) 과 에너지 필터링 이미징 (Energy-filtered Imaging) 을 포함한 다양한 기능을 제공 할 수 있습니다. PHILIPS Quanta 200은 FEG (field emission gun) 와 환경 기능의 독특한 조합을 가지고 있습니다. FEG 및 이중 이온 소스와 SE 검출기의 조합으로, 30kV에서 2.5nm의 뛰어난 해상도로 0.1V 최대 30kV의 작동 전압 범위에서 현미경을 작동 할 수 있습니다. 나놀리 토그래피, 실패 분석 및 재료 연구. Quanta 200의 환경 기능에는 작업 챔버 에어록 및 환경 격리 등급 글러브 박스 (glove box) 가 포함됩니다. 에어록 (airlock) 은 진공 펌프 (pump) 에 연결하여 사용자가 높은 처리량을 가진 진공 상태에서 작동 할 수 있으며, 환경 글러브 박스 (environmental glove box) 는 오염이 없는 환경을 보장합니다. 또한 PHILIPS/FEI Quanta 200에는 작동 압력 범위 (10-10 ~ 10-7 Pa) 를 제공하는 완전 통합 차동 펌핑 시스템이 장착되어 모든 종류의 진공 응용 프로그램이 가능합니다. 분석 측면에서 FEI Quanta 200에는 분광계 내장 및 에너지 필터링 이미징이 기본으로 제공되며, 사용자는 구성, 깊이 프로파일, 원소 분포, 잔류 스트레스, 표면 결함 및 나노 기술과 같은 신흥 기술과 같은 재료 특성을 분석 할 수 있습니다. 기술. 모든 면에서 PHILIPS Quanta 200은 연구원들에게 신뢰할 수 있는 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 및 분석 도구를 제공하는 강력한 도구입니다. 첨단 기능 (advanced features and function) 을 통해 다양한 응용프로그램과 환경제어 (Environmental Control) 기능을 사용할 수 있으므로 나노미터 규모의 다양한 재료를 처리하고 물리적 특성을 분석 할 수 있습니다.
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