판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9122142

PHILIPS/FEI Quanta 200은 다양한 재료를 이미징하는 탁월한 기능을 갖춘 SEM (Scanning Electron Microscopy) 시스템의 업계 표준입니다. SEM은 초점 전자 빔을 사용하여 최대 500,000 배의 배율로 표본의 고해상도 이미지를 획득하며, 표면 구조, 조성 및 형태 분석에 이상적입니다. FEI Quanta 200은 또한 원소 미세 분석, 금속 영상, 도자기, 유기, 나노 구조 및 생물학적 재료에 사용될 수 있습니다. 주사 전자 현미경은 고해상도 이미징을위한 60KV 다재다능한 전자원으로 구동되며, 이는 기기의 기둥 정점에 있습니다. 전자 소스에는 스팟 모드 (spot-mode) 및 저전압 이미징 기능도 포함되어 있으며, 이는 낮은 명암과 고해상도 이미징 요구 사항에 필수적입니다. 또한, 큰 FEG (Field Emission Gun) 는 뛰어난 출력 안정성과 샘플 준비 없이도 샘플을 분석 할 수있는 기능을 제공합니다. 또한 FEG에는 최고 수준의 정확성을 보장하는 통합 비 접촉 (non-contact) 단계가 있습니다. 또한, PHILIPS Quanta 200 플랫폼은 최고 품질의 재료 및 구성 요소로 구성되어 기계적 안정성과 성능을 향상시킵니다. 섀시의 연동 구조 (Interlocking Structure) 와 지능형 설계 (Intelligent Design) 는 항상 안정적이고 안정적인 작동 표면을 보장합니다. Quanta 200 시스템에는 최첨단 제어 및 자동화 기술도 장착되어 있습니다. PLC (Programmable Logic Control) 모듈을 사용하면 이미징 시퀀스를 사용자 정의할 수 있으며 표준화되고 사용하기 쉬운 실험 설정, 시스템 제어 및 데이터 검색을 허용하는 대화형 GUI (Graphical User Interface) 가 있습니다. PHILIPS/FEI Quanta 200은 또한 섬세한 생물학적 표본을 이미징하기위한 환경 SEM (ESEM) 기술과 함께 고급 저진공 이미징 기능을 제공합니다. ESEM 은 최대 80,000x 배율의 다양한 샘플에 대한 실시간 고급 이미징 기능을 제공합니다. 마지막으로, 고해상도 2 차 전자 (SE2) 검출기는 높은 진공 이미징 모드와 낮은 진공 이미징 모드 모두에서 빠르고 정확한 영상을 제공합니다. 이로써, 이미징 및 분석 애플리케이션을 위한 정교한 기술과 기능을 갖춘 강력한 SEM 시스템이 탄생하게 됩니다.