판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 #293824696

PHILIPS/FEI Quanta 200 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 표면과 작은 물체의 구조적 특성을 매우 높은 배율로 평가하기위한 고급 이미징 도구입니다. 내장 STEM 검출기를 사용하면 비전도 및 전도 샘플에 대한 자세한 분석을 할 수 있습니다. FEI Quanta 200은 쉽게 조절 가능한 트윈 렌즈 (Twin Lens) 열을 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 다양한 배율로 다양한 샘플을 정확하게 샘플링 할 수 있습니다. 입자 크기 자동 분석 (automated particle sizing analysis), 원소 자동 분석 (automated elemental analysis) 과 같은 매우 상세한 이미지 분석을 위한 고급 분석 시스템이 있습니다. 또한 다양한 백스캐터 검출기를 갖춘 고급 이미징 시스템 (advanced imaging system) 을 사용하여 서브 미크론 표본의 고해상도 이미징을 허용합니다. 샘플에서 다양한 입자와 분자를 감지하고 셀 수있는 열 내 (in-column) 분석 시스템이 특징입니다. PHILIPS Quanta 200은 고해상도 SEM 이미징을위한 고성능 전자 광학을 갖추고 있습니다. 고에너지 전자총은 최대 200kV 빔 전류를 생산하며, 뛰어난 필드와 이미지 명암을 제공합니다. 또한 고각도 확대 (high- angle magnification) 기능을 통해 특정 고배율에서도 숨겨진 구조물이나 세부 사항을 볼 수 있습니다. 콴타 200 (Quanta 200) 에는 전도성 및 비 전도성 표본을 포함한 다양한 샘플 유형을 수용 할 수있는 샘플 홀더가 장착되어 있습니다. 또한 냉각 단계 (cooling stage) 와 온도 모니터 (temperature monitor) 를 포함한 다양한 전극 옵션이 있습니다. 이를 통해 원소 정보를 더 정확하게 감지 할 수 있습니다. PHILIPS/FEI Quanta 200은 사용자 친화적으로 설계되었으며, 이미지 처리 및 분석 프로세스를 통해 사용자를 안내하는 자습서 (tutorial) 기능이 포함되어 있습니다. FEI Quanta 200 (FEI Quanta 200) 은 미세한 세부 사항을 분석하고 매우 높은 확대에서도 숨겨진 기능 또는 구조를 식별해야 하는 사람들에게 적합한 이미징 도구입니다. 안정적이고 효율적인 스캐닝 (scanning) 전자 현미경으로, 광범위한 상세한 이미지와 데이터를 제공할 수 있습니다. 구성 요소, 부품, 생물학적 표본에 이르기까지 모든 종류의 샘플을 분석하려는 사람들에게 적합합니다.