판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 #293807174
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ID: 293807174
Scanning Electron Microscope (SEM)
Dual anode source emission geometry
Fixed objective aperture
Through-the-lens differential pumping
Filament lifetime: >100 hours
Resolution:
3nm at 30kV (SE)
4nm at 30kV (BSE)
10nm at 3kV (SE)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2µA
Detectors:
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LFD)
Gaseous SED (GSED)
Solid-state BSED
Gaseous analytical BSED (GAD)
Vacuum system:
240 l/s TMP
PVP
Beam gas path length: 10/2 mm
Chamber:
(8) Ports
Left to right: 284mm
Analytical WD: 10mm
EDX Take-off angle: 35°
4-Axis motorized stage:
Eucentric goniometer stage
X,Y: 50mm
Z: 50mm
R: 360°
T: -15° to +75°
Repeatability: 2µm
Image display:
LCD: 19 inch
SVGA: 1280 x 1024
System control:
Keyboard
Optical mouse
Single frame
(4) Quadrant image display
(4) Quadrant live
Graphical user interface: 32-Bit
Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI Quanta 200은 다양한 개발 단계에서 재료의 고해상도 이미징 및 분석을 제공하기 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 현미경은 고급 광학, 제어 시스템, 소프트웨어를 결합하여 성능 및 정확도를 최적화합니다. 이 도구는 재료 (material) 와 컴포넌트 (component) 분석 분야에서 다양한 작업을 위한 다양한 분석 솔루션을 제공합니다. FEI Quanta 200은 최대 10 도의 동적 범위를 가지며, 최대 3 nm 해상도의 세부 사항을 이미지화하고 감지 할 수 있습니다. 이 장치에는 정밀한 이미징을 위해 가변 압력 동작 (Variable Pressure Operation) 및 조정 기능을 사용하는 최고급 렌즈가 장착되어 있습니다. 또한 디지털 이미징 기술 (digital imaging technology) 을 활용하여 심도가 넓은 이미지를 선명하게 렌더링합니다. 최적화된 optic과 함께 PHILIPS Quanta 200에는 고감도 검출기, 이미지 증폭기, 고급 전자 컨트롤이 장착되어 있어 정확한 측정 및 기능을 제공합니다. 입자, 픽셀 및 부피 내 입자를 0.1nm까지 감지 할 수 있습니다. 탐지기는 수소와 같은 가벼운 원소에서 우라늄 (uranium) 과 같은 무거운 원소에 이르기까지 다양한 원소를 탐지 할 수 있으며, 상대적으로 쉽게 X-Ray 측정을 수행 할 수 있습니다. Quanta 200은 또한 탁월한 데이터 시각화 및 분석 기능을 제공하는 고급 소프트웨어 패키지를 갖추고 있습니다. 그래픽 사용자 인터페이스를 통해 맞춤형 보고서 작성 및 데이터 처리 솔루션을 사용할 수 있습니다. 보다 복잡한 연구 및 개발 작업을 위해 로봇 시스템과 연결 할 수도 있습니다. PHILIPS/FEI Quanta 200은 연구원에게 고해상도 이미징과 정확한 분석을 제공하는 강력한 도구입니다. 최적의 성능을 위해 고급 광학, 탐지기, 전자 제품 제어 및 소프트웨어 제품군을 사용합니다. 기능 및 특성으로 인해 FEI Quanta 200은 재료 및 컴포넌트 분석 분야의 연구 개발에 이상적입니다.
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