판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293741838

PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG는 다양한 연구 및 산업 응용 분야에 탁월한 이미징 및 분석 기능을 제공하는 최첨단 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고성능 기기는 첨단 현미경 (advanced microscopy) 의 요구를 충족시키기 위해 고안되었으며, 연구자들은 광범위한 재료의 형태, 구성, 구조를 특성화하기위한 강력한 도구를 제공합니다. FEI Quanta 200 FEG는 전자원으로 FEG (Field Emission Gun) 를 특징으로하며 전통적인 열전자 전자원에 비해 우수한 전자 빔 밝기와 안정성을 제공합니다. 결과적으로 이미지 해상도가 향상되고 신호 대 노이즈 비율이 향상되어 나노 구조의 상세한 시각화 (Visualization) 와 탁월한 선명도와 명암비를 갖춘 미세한 표면 (Fine Surface) 기능이 가능합니다. PHILIPS Quanta 200 FEG에는 다양한 표본 유형, 크기, 모양을 수용하는 다용도 및 구성 가능한 챔버가 장착되어 있습니다. 큰 챔버 (chamber) 크기는 작은 나노 입자에서 더 큰 표본에 이르는 샘플을 분석 할 수있는 반면, 가변 압력 (variable pressure) 모드는 코팅이 필요하지 않은 비 전도성 또는 수화 된 샘플의 영상을 허용합니다. Quanta 200 FEG의 주요 강점 중 하나는 고급 이미징 기능으로, 2 차 전자 (SE) 및 백스캐터링 전자 (BSE) 이미징과 같은 고해상도 이미징 모드를 포함합니다. 이 기기는 SE 모드에서 하부 나노 미터 해상도를 달성 할 수 있으며, 연구원은 뛰어난 선명도로 미세한 표면 세부 사항 및 나노 구조를 시각화 할 수 있습니다. 또한, BSE 이미징 모드는 중요한 구성 대비 정보를 제공하여 재료 구성 및 분배를 분석하는 데 이상적입니다. 이미지 처리 외에도 PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG는 심층적 인 재료 특성화를위한 다양한 분석 기능을 제공합니다. 고급 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 시스템은 고감도 및 공간 해상도로 원소 분석 및 매핑을 가능하게합니다. 연구자들은 표본의 원소 조성을 정확하게 식별하고 정량화 할 수 있으며, 재료 특성 및 화학 조성에 대한 귀중한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 또한 FEI Quanta 200 FEG에는 재료의 결정 학적 분석을위한 전자 역 산란 회절 (EBSD) 기능이 장착되어 있습니다. 이를 통해 연구원들은 곡물 방향, 위상 식별, 텍스처 분석 등 샘플의 미세 구조 특성을 조사 할 수 있습니다. PHILIPS Quanta 200 FEG의 EBSD 시스템은 곡물 수준에서 재료를 연구하고 기계 및 열 특성을 이해하는 데 유용한 정보를 제공합니다. Quanta 200 FEG는 직관적인 작업 및 이미징 및 분석 기능의 원활한 통합을 지원하는 사용자 친화적 인 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 이 장비는 자동 초점 (auto-focus), 자동 고정 (auto-stigmation), 자동 이미지 입수 (automated image acquisition) 등 생산성 향상을 위한 다양한 자동화 기능을 제공합니다. 연구원은 데이터를 효율적으로 획득하고 처리하고, 시간을 절약하며, 샘플 속성을 신속하게 파악할 수 있습니다. 결론적으로, PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG는 강력하고 다용도 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 응용 프로그램에 대한 고급 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 연구원들은이 고성능 기구에 의존하여 재료 특성 (material properties) 에 대한 자세한 통찰력을 제공하여 과학· 기술 분야의 획기적인 발견과 발전을 가능하게 합니다.