판매용 중고 PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #9315970

ID: 9315970
Scanning Electron Microscope (SEM) Dual beam With Ga ion source Acceleration voltage: 2-30kV Cutting-edge system Imaging and micro machining Surface imaging resolution: 1nm Resolution: 1.2nm at 30kV with SE detector FIB Resolution: 5-7nm ESEM Resolution: 1.5nm.
PHILIPS/FEI Quanta 200 3D는 이미지, 분석 및 도량형 응용 프로그램을위한 다양한 기능을 제공하는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다른 SEM 모델보다 뛰어난 성능, 정확성 및 유연성을 약속하는 고해상도 TEM (Transmission electron microscope) 입니다. 2 차 전자 검출기로서 FEI Quanta 200 3D는 기존 BED와 고효율 SuperFEG를 모두 포함하는 하이브리드 구성을 특징으로하는 BED (Backscatter electron detector) 를 특징으로합니다. PHILIPS Quanta 200 3D는 최대 500,000배까지 확장할 수 있어 뛰어난 해상도를 제공합니다. 이 기기에는 고유한 자동 정렬 단계 (auto-alignment stage) 가 장착되어 있어 샘플을 빠르고 정확하게 프로파일하고 자동으로 정렬할 수 있습니다. Quanta 200 3D는 또한 20kV 고정 빔 검출기를 특징으로하여 이미징 샘플의 뛰어난 해상도와 안정성을 보장합니다. 또한, PHILIPS/FEI Quanta 200 3D의 뛰어난 전자 광학은 사용자에게 이미지 매개 변수 (예: 전류 공급 한계 및 소스 전압) 를 최적화하는 최대 유연성을 제공합니다. FEI Quanta 200 3D에는 고속 CCD 카메라가 포함되어 실시간 관찰 및 분석이 가능합니다. PHILIPS Quanta 200 3D의 정확성과 안정성은 운영 환경에서 3 차원 구조를 이미징하는 데 특히 적합합니다. 비접촉 인컬럼 (non-contact in-column) 검출기, 고급 이미지 처리 알고리즘과 같은 고급 기능을 통해 복잡한 3차원 구조를 정확하게 시각화하고 제어할 수 있습니다. 또한 Quanta 200 3D는 빔 분석 및 도량형을위한 다양한 옵션을 제공합니다. 여기에는 고급 전자 백스캐터 패턴 (EBSP) 분광계, 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분광계 및 잔여 가스 분석기 (RGA) 가 포함됩니다. 이러한 옵션을 SuperFEG 및 표준 SEM 탐지기 (detector) 와 결합하여 빠르고 정확한 데이터 수집 및 분석을 수행할 수 있습니다. 결론적으로 PHILIPS/FEI Quanta 200 3D는 최첨단 스캔 전자 현미경으로, 이미징, 분석 및 도량형 응용 프로그램에 상당한 이점을 제공합니다. 이 기기의 뛰어난 해상도, 정확도, 유연성은 복잡한 3 차원 구조, 특히 복잡한 운영 환경에서 시각화하고 제어하는 데 이상적입니다. 또한, 고급 기능은 빠르고, 정확한 데이터 획득 및 분석 기능을 제공하며, 다양한 빔 (beam) 분석 및 도량형 옵션을 통해 샘플 특성을 빠르고, 수작업으로 처리할 수 있습니다. FEI Quanta 200 3D는 현대 실험실에서 귀중한 강력한 도구입니다.
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