판매용 중고 PHILIPS / FEI FIB 200 #293594795

PHILIPS/FEI FIB 200은 현대 연구 환경을 위해 설계된 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고품질 이미징 (Imaging) 기능을 통해 설계되었으며, 가장 섬세한 샘플에서도 구조를 관찰 할 수 있습니다. FEG (Integrated Field-Emission Gun) 는 원자 척도에서 재료에 대한 탐정 연구를 허용하는 고해상도에 기여합니다. 이 기기는 고정밀 샘플 챔버 (sample chamber) 를 장착하여 섬세한 직물 (fabric) 에서 연약한 생물학적 재료 (biological material) 에 이르는 샘플에 안정적이고 견고한 마운팅을 제공합니다. 한편, 대형 250mm 표적 샘플 크기는 다양한 샘플 크기를 수용합니다. 이 현미경은 현장 방출 총의 고급 고해상도 이미징 성능을 특징으로하며, 결함 분석, 나노 구조 이미징, 나노 기술 등의 연구에 이상적입니다. 이 향상된 이미징 해상도 (enhanced imaging resolution) 는 섬세한 샘플을 이미징할 때에도 선명한 이미지를 확보하기 위해 실시간 탄도 전자에 의해 지원됩니다. 또한, 대화형 디지털 수동 스캔 모드에서는 사용자가 필요에 따라 스캔 (scanning) 매개변수를 조정할 수 있습니다. FEI FIB 200은 샘플의 원소 구성 분석을 제공하는 강력한 에너지 분산 분광법 (EDS) 시스템과 통합되어 있습니다. 초해상도 (Ultra Resolution) 렌즈와 호환되므로 매우 민감한 샘플에서도 해상도 제한을 더욱 높일 수 있습니다. 이 SEM은 사용자 친화적이며 인체 공학적입니다. 이미지 제어 스테이션 (image control station) 및 크고 직관적인 제어 패드 (control pad) 와 같은 기능은 샘플 이미징 및 작동을 사용자에게 더욱 편리하게 만듭니다. 필립스 피브-200 (PHILIPS FIB-200) 은 다용도가 뛰어나므로 사용자가 하나의 악기로 다양한 작업을 수행 할 수 있습니다. 뛰어난 이미징 해상도와 직관적인 인터페이스 (interface) 는 다양한 연구에 이상적인 도구입니다.