판매용 중고 PHILIPS / FEI FIB 200 #293587354

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293587354
Focused Ion Beam (FIB) System Insulator Pt Carbon GIS XeF2.
PHILIPS/FEI FIB 200은 이중 빔 스캔 전자 현미경으로, 고해상도 이미징 기능을 제공하는 도구입니다. 이 현미경 에는 여러 가지 특징 이 갖추어져 있어서, 여러 분야 의 연구가 들 에게 필수적 인 도구 가 되고 있다. "깨어라!" 기본적 인 광학 "시스템 '은 음극선" 소오스' 와 전자 의 광선 을 초점 을 맞추고 조작 하는 데 사용 되는 다양 한 "렌즈 '와" 컨트롤' 로 구성 되어 있다. 현미경에는 FIB (focused ion beam) 도 있습니다. 이 장치는 모세혈관을 직접 조작하여 밀링 및 드릴링과 같은 작업을 허용합니다. 같은 기기에서 전자와 이온 빔의 조합으로 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 과 나노 (nanofabrication) 를 모두 달성 할 수 있습니다. 현미경 자체는 최대 0.8 nm의 해상도를 가지며, 시야는 최대 4 mm입니다. 30 kV ~ 30 kV로 작동 할 수 있으며, 여러 가지 다른 작동 모드로 조정 할 수 있습니다. 또한, 기기에는 샘플 분석에 사용할 수있는 분석 시스템이 있으며, 2 차 전자, 역 산란 전자 및 X- 선의 신호를 제공합니다. FEI FIB 200은 다양한 이미징 장비로, 일관된 고품질 결과를 낼 수 있습니다. 전자식 (Electron-Beam) 과 이온빔 (Ion-Beam) 이미징 기능, 저전력 소비량, 광범위한 운영 모드 등이 결합되어 연구자들에게 탁월한 선택입니다. PHILIPS FIB-200은 매우 정확하고 신뢰할 수있는 기계로, 최고 수준의 품질과 정확도를 제공합니다.
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