판매용 중고 PHILIPS / FEI EM 400T #9257518

PHILIPS/FEI EM 400T는 대규모 이미징, 3 차원 분석 및 미세 구조의 고해상도 정량화를 위해 설계된 현대적인 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 모델은 고성능, 열 안정화된 장치로, 확장된 이미징 세션에 걸쳐 안정성, 정밀성, 정확성을 제공합니다. 고급 현장 방출 소스, 효율적인 아인젤 렌즈 (Einzel lenses) 및 고성능 에너지 분산 분광학 (EDS) 검출기를 통해 자세한 이미지 및 재료 표면의 조성 맵을 얻을 수 있습니다. FEI EM 400T는 SEM 모드에서 1.3nm, STEM 모드에서 5.15nm의 해상도로 매우 상세한 시각화를 제공합니다. 최대 150mm 직경의 샘플을 수용 할 수있는 자동 샘플 스테이지 (automated sample stage) 가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 에 의해 규제되며, 최소 샘플 손상, 향상된 이미지 품질, 효율적인 프로세스 워크플로우를 위한 정확한 조정, 기능 및 설정을 지원합니다. 사용자 인터페이스를 사용하면 별색 크기, 용량, 스테이지 위치, 이미징 영역 등 다양한 이미징 매개변수를 사용자 정의할 수 있으며, 자동화된 이미징 작업을 수행할 수 있습니다. 필립스 EM 400T (PHILIPS EM 400T) 는 생물학적 구조 연구, 고유 환경의 이미징 화합물, 미세 구조 및 나노 구조 분석 등 광범위한 응용이 가능한 다기능 도구입니다. 또한 재료 연구 및 리버스 엔지니어링에 이상적입니다. 패러데이 케이지 (Faraday Cage) 는 자기 및 전기 편향을 가능하게하여 비용이 많이 드는 장비 변경 없이도 빔 스티어링을 허용합니다. EM 400T는 빔 전류 피드백 시스템 (Beam Current Feedback System) 도 사용하며, 빔 안정성 향상과 충전 아티팩트 감소를 위해 빔 위치를 자동으로 조정합니다. 또한, 이 모델은 코팅 (coating) 및 가스 시스템 (gas system) 과 같은 다양한 액세서리와 호환되므로 비 전도성 표본의 뛰어난 이미징이 가능합니다. 전반적으로, PHILIPS/FEI EM 400T는 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 재료와 미세 구조의 뛰어난 이미지를 제공 할 수 있습니다. 고급 (Advanced) 기능을 통해 상세한 분석 및 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 에 적합하므로 재료 구조와 구성에 대한 이해도를 높일 수 있습니다.