판매용 중고 PHILIPS / FEI EM 400T #9257475

PHILIPS/FEI EM 400T는 나노 스케일에서 샘플의 이미징 및 특성화에 사용되는 전용 열전 방출 스캐닝 전자 현미경 (TFE-SEM) 입니다. 모듈식 (modular) 설계를 통해 사용자의 애플리케이션 요구에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. FEI EM 400T에는 200mm 플랫 폴 스캐닝 전자 소스, 고출력 25mm 구형 폴 스캐닝 전자 소스 및 고정밀 저에너지 그리드 기반 건 정렬 장비가 장착되어 있습니다. 또한 혁신적인 인 렌즈 (in-lens) 이중 기울기 건 정렬 시스템을 갖추고 있어 전자 빔의 기울기 (tilt) 와 초점 (focus) 을 쉽게 변경할 수 있습니다. PHILIPS EM 400T는 빠르고 정확한 샘플 이미징을 제공하는 고급 현장 방출 기술을 제공합니다. 대형 이미지 필드로 설계되었으며 최대 4K 해상도의 이미지를 캡처 할 수있는 16 메가 픽셀 (Megapixel) 디지털 카메라가 포함되어 있습니다. EM 400T의 최대 작동 거리는 10mm이고 해상도는 1.2nm입니다. 또한 여러 샘플을 중단 없이 스캔할 수 있도록 자동 샘플 교환 장치 (automated sample exchange unit) 가 있습니다. PHILIPS/FEI EM 400T는 역산포 전자 (BSE), 2 차 전자 (SE), 에너지 분산 엑스선 분광법 (EDS), cathodoluminescence (CL) 및 광범위한 스펙트럼 이미징 (BSI) 을 포함한 인상적인 이미징 기능을 제공합니다. 또한 다양한 강도 및 필터 컨트롤이 있습니다. 기기의 초안정 샘플 스테이지 및 샘플 홀더는 우수한 진동 격리 (vbration isolation) 및 뛰어난 샘플 위치 지정 및 정렬 정확도를 제공합니다. FEI EM 400T에는 직관적인 소프트웨어 인터페이스를 갖춘 통합 PC 기반 제어 시스템이 포함되어 있습니다. 이 도구는 명암비 (contrast), 임계값 (threshold) 컨트롤, 이미지 평균화 (image averaging), 이미지 스티칭 (image stitching) 기능과 같은 고품질 이미지를 생성하는 포괄적인 도구 세트를 제공합니다. 또한 자동 샘플 준비 도구 (Automated Sample Preparation Tools) 를 사용하여 사용자가 이미지 처리를 위해 샘플을 신속하게 준비할 수 있습니다. 전반적으로 PHILIPS EM 400T는 미네랄, 나노 입자 및 포토 볼타 소재와 같은 광범위한 나노 미터 스케일 샘플을 연구하기위한 이상적인 도구입니다. EM 400T는 혁신적인 현장 방출 기술, 다양한 이미지 처리 기능, 자동 샘플 (sample) 준비 툴을 통해 다양한 어플리케이션에 탁월한 이미징 및 특성화 성능을 제공합니다.