판매용 중고 PHILIPS / FEI CM20 #293686733

필립스/페이 CM20 (PHILIPS/FEI CM20) 은 광범위한 응용 분야에서 표면의 파괴적이지 않은 분석을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기의 최대 2 차 전자 (SE) 이미징 해상도는 1nm이며, 충전 감소 및 미세한 기능의 최적의 해상도를 위해 낮은 kV에서 뛰어난 성능을 제공합니다. 이 기기에는 원형 분석, 그리드/그리드리스 측정, 이미지 세그먼트, 그래 핀 특성, 입자 추적 등을 포함한 이미지 처리 기능을 제공하는 최신 FEI EDAX 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 또한 온보드 이미지 분석 소프트웨어 (On-board image analysis software) 를 통합하여 신속한 결과와 데이터 보존을 위한 이미지 스토리지 시스템을 제공합니다. FEI CM20은 가능한 에너지가 가장 낮은 전자 빔 인 냉장 방출 총 (FEG) 을 가지고 있으며, 최대 해상도 이미징을 사용할 수 있습니다. 빔 블랭커 (beam blanker) 는 표본의 충전을 줄여 가장 낮은 샘플 손상을 줄 수 있습니다. 또한, 세트 포인트 제어 SE 검출기는 일관된 결과를 위해 시간이 지남에 따라 고정 상태를 유지하며, 빔 안정화 기능을 통해 이미지 안정성이 보장됩니다. 현미경은 작업 거리가 커서 표본에 쉽게 접근 할 수 있습니다. 스테이지가 동력화되어 샘플 주변의 편리한 탐색이 가능합니다. 이 기계는 또한 높은 진공 및 낮은 진공 환경 (low vacuum environment) 을 포함하여 확장 된 응용 기능에 대한 조절 가능한 챔버 압력을 가지고 있습니다. PHILIPS CM 20은 견고하고 안정적이며, 다양한 무중단 애플리케이션에 적합한 뛰어난 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 통합 제어 시스템, 소프트웨어, 탐지기 및 액세서리는 모든 기술 수준의 사용자에게 귀중한 SEM 이미징 툴입니다.