판매용 중고 PHILIPS / FEI CM120 #9195671

PHILIPS/FEI CM120은 다양한 재료 연구 샘플에 대한 강력한 이미징, 분석 및 샘플 준비 도구를 제공하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM 이미징을위한 매우 민감한 검출기와 디지털 신호 처리 (digital signal processing) 를 결합하여 재료 특성화의 고급 분석을 수행합니다. 이 장치는 고급 전자 소스를 사용하여 뛰어난 해상도와 명암비를 제공합니다. FEI CM120의 가속 전압 범위는 1 ~ 30kV로, 다양한 샘플과 재료를 이미징할 수 있습니다. 이 범위는 다른 배율로 이미지를 만들 수 있습니다. 또한 PHILIPS CM 120에는 손쉽게 수동으로 제어할 수 있는 자동 (automated) 스테이지가 있으며, 패닝, 확대/축소 및 속도 연산이 가능합니다. 이를 통해 쉽게 이동하고 샘플을 탐색할 수 있습니다. 이 기기는 에너지 분산 X-ray (EDX) 검출기로 설계되었으며, 샘플 주위에 위치한 검출기에 의해 샘플에서 방출되는 전자와 X-ray를 동시에 감지 할 수 있습니다. 이러한 검출 (detector) 이 검출기 신호 처리에 도달하면 샘플 이미지를 얻는 데 사용되는 것입니다. 이를 통해 추가 재료 분석을 위해 샘플 이미지를 쉽게 생성할 수 있습니다. PHILIPS/FEI CM 120은 넓은 시야, 매우 좋은 현장 깊이, 표본의 세부 사항 향상 등을 제공합니다. 또한 다양한 샘플 유형에서 달성한 결과를 향상시키는 다양한 스캔 모드 (scan mode) 를 제공합니다. 이렇게 하면, 효율적 인 방법 으로 현미경 의 "샘플 '을 더욱 세밀 하게 시각화 할 수 있다. 자동 컴퓨터 제어 (Automatic Computer Control) 로 인해 최소한의 노력으로 샘플의 뛰어난 이미지를 만들 수 있습니다. 이렇게 하면 이미지가 최고 품질의 이미지인지 확인할 수 있습니다. 현미경에는 운영, 제어, 이미지 데이터 평가와 관련된 활동을 단순화하는 소프트웨어도 있습니다. 또한 효과적인 연구를 지원하기 위해 자동 계산 작업을 제공합니다. CM120 은 다양한 기능과 기능, 민감한 검출기 (detector), 디지털 신호 처리 기능으로 인해 재료 연구를 위한 탁월한 선택입니다. 샘플 이미징, 분석, 준비 프로세스를 단순화하여 다양한 유형의 연구에 강력한 선택이 가능합니다.