판매용 중고 PHILIPS / FEI CM12 #293651556

PHILIPS/FEI CM12는 미세 구조의 연구 및 특성에 사용되는 최첨단 스캔 전자 현미경입니다. 탁월한 이미징 기능을 제공하는 혁신적인 고성능 전자열이 장착되어 있어 복잡한 구조의 3D 이미징 (full 3D imaging) 을 가능하게 합니다. FEI CM12에는 질적 및 정량적 원소 분석이 가능한 에너지 분산 X- 선 검출기가 있습니다. 5 나노 미터 미만의 해상도로 샘플의 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 배율 (1000x) 에서 500,000x (500,000x) 의 범위로, 샘플에 대한 매우 상세한 이미지를 사용자에게 제공할 수 있습니다. 탁월한 이미징 기능 외에도, PHILIPS CM 12는 신속한 이미지 입수를 지원하는 빠른 스캔 모드를 제공합니다. 이것은 공간 복잡도가 높은 샘플을 이미징 할 때 특히 유용합니다. 스캐닝 단계에는 자동 정렬 시스템 (automated alignment system) 이 장착되어 있어 밀집된 샘플 서피스를 정확하고 신속하게 분석할 수 있습니다. PHILIPS/FEI CM 12는 사용자에게 안전하고 안정적인 검색 환경을 제공하도록 설계되었습니다. 예 를 들어, 광선 전류 (beam current) 는 현미경 (microscope) 이 작동 할 때 표본 이 손상 되지 않도록 제한 되어 있다. 또한 통합 냉각 시스템 및 진동 격리를 제공합니다. FEI CM 12는 다양한 액세서리와 소프트웨어를 제공하여 다양한 어플리케이션을 지원합니다. 자동 정렬 시스템 (Automated Alignment System) 을 통해 사용자가 신속하게 샘플을 설정하고 빠른 측정을 수행할 수 있습니다. 또한 객체 지향 프로그래밍 및 통합 모션 컨트롤을 갖춘 강력한 합성 소프트웨어 툴킷을 자랑합니다. 이 툴킷은 사용자의 생산성을 향상시켜, 측정값을 빠르고, 정확하게 측정하고, 분석할 수 있도록 설계되었습니다. 결론적으로, PHILIPS CM12는 다양한 응용 분야에 적합한 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 첨단 전자열 (Electron Column) 기술이 적용되어 세부적인 이미지와 측정치를 만들 수 있습니다. 다양한 액세서리와 소프트웨어를 통해 스캐닝 (scanning) 환경을 최대한 활용할 수 있습니다.