판매용 중고 PHILIPS / FEI CM12 #293651550
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ID: 293651550
Transmission Electron Microscope (TEM)
IXRF SDD3103 Detector
Does not include chiller.
PHILIPS/FEI CM12는 다양한 기능과 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 체내 압력 제어 장비 인 마이크로 비전 XQ (MicroVision XQ) 에 의해 측정 된 샘플 챔버 (sample chamber) 의 환경과 함께, 낮은 진공 작동을 허용하는 가변 압력 SEM 열을 사용합니다. 또한 5mm, 스플릿 폴 (split pole), 가변 조리개 렌즈, 고성능 이미징 시스템 제공, 두 개의 표준 검출기 중 하나가 향상되었습니다. 여기에는 CCD 카메라 및 EDS 옵션이 포함되며, 둘 다 고해상도 이미징 기능과 자세한 스펙트럼 분석을 제공합니다. 이 장치는 또한 800mm x 800mm 대형 샘플 스테이지를 자랑하며, 정확한 샘플 포지셔닝을 위해 모든 범위의 자동 탐색 및 모션 프리셋 (motion preset) 을 제공합니다. FEI CM12는 다양한 현미경 플랫폼을 사용하여 탁월한 이미징 성능을 제공합니다. 예를 들어, 고급 반 전송 전자 현미경 장치는 스캐닝 전송 전자 현미경 (STEM) 과 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 의 이점을 결합합니다. 따라서 두 방향 모두에서 대규모 이미징을 수행할 수 있습니다. 열 내 낮은 진공, 가변 압력 SEM (variable pressure SEM) 은 또한 다양한 진공 조건에서 다양한 대비 기술을 갖춘 대규모 이미징을 할 수 있습니다. 이 외에도 전자 백스캐터 회절 (EBSD), Z- 명암비, EDX 및 CL Analytical 이미지 획득 모드를 포함한 강력한 다양한 기술을 사용할 수 있습니다. 필립스 CM 12 (PHILIPS CM 12) 는 또한 다양한 Microsoft Windows 프로그램을 호스팅하는 전용 컴퓨터 머신을 포함하여 다양한 데이터 분석 및 소프트웨어 기능을 제공합니다. 또한 데이터를 표준 형식으로 수집, 저장, 표시할 수 있으며, 아카이빙, 게시, 분석에 적합합니다. 통합 네비게이터를 사용하면 샘플을 빠르고 정확하게 배치할 수 있고, XY 자동 (XY auto) 스테이지는 반자동 스캐닝 작업을 수행할 수 있습니다. 신뢰할 수 있는 성능과 다양한 설계로 인해 FEI CM 12는 고해상도 이미징, 신속한 이미지 수집, 자동 데이터 분석을 위한 탁월한 도구입니다. 고성능 이미징 기능, 향상된 스펙트럼 분석 (Spectrum Analysis), 통합 내비게이션 제어 (Integrated Navigation Control) 등 다양한 추가 기능을 통해, 현미경 분야의 복잡한 연구와 대규모 연구를 모두 처리하려는 사람들에게 필수품입니다.
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