판매용 중고 PHILIPS / FEI CM100 #9202885

필립스/FEI CM100 (PHILIPS/FEI CM100) 은 높은 해상도로 연구원들에게 표본의 자세한 이미지를 제공하도록 설계된 인상적인 기능을 갖춘 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI CM100은 열적으로, 진동적으로 안정적인 고성능 환경 SEM 플랫폼으로, 다양한 어플리케이션에 초고속 단면 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. DSP (Advanced Digital Signal Processor) 기반 모션 컨트롤, DIZO (Digital Imaging-Zoom) 및 ISF (Image Shift Function) 를 포함한 고급 이미징 도구로 더욱 빠르고 정확한 로컬라이제이션과 고해상도 이미징이 가능합니다. PHILIPS CM100은 SEM 열과 샘플 단계의 두 가지 주요 구성 요소를 사용합니다. 강력한 SEM 열에는 최대 30kV의 가속 전압이 장착 된 전자 소스, 완전 자동 자동 조정 및 총 조정 기능, DSP (Digital Signal Processor) 기반 자동 초점 시스템이 포함되어 있습니다. 이 조합을 통해 연구원들은 초고해상도 이미지와 샘플 분석을 얻을 수 있습니다. 샘플 스테이지에는 플랫폼 스캔 제어 및 정밀 표본 조작을위한 동력 샘플 스테이지가 있습니다. 또한 CM100에는 표면 영상을위한 2 차 전자 검출기 (SED) 와 단면 영상을위한 LKV-SED (low-kV 2 차 전자 검출기) 가 장착되어 있습니다. 또한 PHILIPS/FEI CM100은 샘플을 최대한으로 분석할 수 있는 여러 가지 고급 도구를 제공합니다. 특허를 획득 한 MEM-CAD 기능을 통해 연구원들은 동일한 샘플의 많은 양의 데이터를 여러 회전 단계에서 이미지화하고 축적하여 효과적인 3D 재구성 이미지 분석 (3D Reconstructive Image Analysis) 을 수행할 수 있습니다. DIC (Digital Image Correlation) 기능은 표면 지형 및 시프트 효과를 정확하게 측정하여 FEI CM100의 성능을 더욱 향상시킵니다. 마지막으로, AFR (Automated Feature Recognition) 은 통계 및 주석 (Annotation) 기능과 함께 다양한 매개변수를 자동으로 인식하여 데이터를 정확하게 분석할 수 있도록 합니다. 요약하면, PHILIPS CM100은 탁월한 화질과 다양한 분석 도구를 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 고감도 검출기 (detector) 와 강력한 기능을 통해 연구원들에게 표본에 대한 상세한 이미지와 포괄적인 데이터를 제공할 수 있다. CM100은 다양한 연구 응용 프로그램에 이상적인 플랫폼입니다.