판매용 중고 PHILIPS / FEI CM10 #9298539

PHILIPS/FEI CM10은 높은 배율에서 샘플의 다양한 물리적, 형태 학적 특징을 관찰하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI CM10은 내구성과 저진동 플랫폼 (low-vbration platform) 을 기반으로 구축되어 연구 및 산업 응용 분야에 적합합니다. PHILIPS CM 10은 고성능 실리콘 드리프트 검출기 (SDD) 로 구동되어 높은 배율로 샘플의 자세한 이미지를 캡처합니다. 최대 배율은 250,000X, 디스플레이 해상도는 3nm입니다. 또한 SDD (SDD) 를 통해 SEM은 최대 40 개의 원소를 정확하게 탐지할 수 있으며, 이는 샘플의 화학 성분을 분석하기위한 훌륭한 도구입니다. PHILIPS CM10은 2 차 전자 영상 (SEI), 백스캐터 전자 영상 (BEI) 및 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 을 포함한 다양한 관측 모드를 제공합니다. SEI 를 통해 사용자는 표본 표면의 미세 세부 이미지를 캡처할 수 있고, BEI 를 통해 구성 및 미세 구조 (micrestructural) 기능을 볼 수 있습니다. EBSD 모드는 결정 샘플을 분석하고, 곡물 방향 및 미세 구조 기능을 관찰하는 데 사용될 수있다. CM 10은 또한 고정밀 스캔 단계를 통해 X, Y 및 Z 방향으로 샘플을 스캔 할 수 있습니다. 이 스캔 단계는 최대 2mm/sec의 속도를 가지며 샘플 홀더, 검출기 등 다양한 액세서리와 호환됩니다. 또한, 현장 난방, 전기 모니터링, 이온 이미징, 자기 샘플의 이미징 등 특정 응용 분야에 대한 특수 기능이 있습니다. FEI CM 10은 사용하기 쉬운 GUI (Graphical User Interface) 를 제공하여 학습하고 작동하기에 직관적입니다. 이 SEM 은 또한 다양한 고급 이미징/분석 프로그램을 통해, 사용자가 분석 기능을 향상시킬 수 있습니다. 신호 대 잡음 비율이 우수하여 낮은 배율에서도 고품질 이미징을 제공합니다. 요컨대, CM10 은 기본 연구부터 산업 분석 (industrial analysis) 에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 이상적인 툴입니다. 뛰어난 이미지 품질, 다양한 관찰 모드, 다양한 기능을 제공하여 분석 능력을 향상시킵니다 (영문).