판매용 중고 PHILIPS / FEI CM10 #293600948

PHILIPS/FEI CM10은 다양한 과학 연구 및 산업 응용 분야에 사용하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 첨단 이미징 기술 (Advanced Image Technology) 은 뛰어난 해상도와 샘플 손상 (Sample Damage) 이 매우 낮은 샘플 이미지를 캡처하는 기능을 갖추고 있습니다. 다양한 광범위한 이미징 모드를 사용하여 FEI CM10 은 이미지 처리 (imaging) 작업에 높은 수준의 다용성을 제공합니다. 필립스 CM 10 (PHILIPS CM 10) 에는 필드프리 렌즈 (field-free lens) 기술 및 적응 대비 보상과 함께 신호에 대한 교란 위험없이 전자의 부드러운 이동을 허용하는 필드 방출 전자원이 있습니다. 이를 통해 다중 리소그래피 및 검출기 (detector) 기술과 함께 사용하면 나노미터 수준에서 샘플의 고해상도 이미지를 캡처할 수 있습니다. FEI CM 10에는 강력한 형상 교정 시스템 (geometry correction system) 이 있으며, 이는 샘플 모양 및 표면 지형으로 인한 오류를 줄이는 데 도움이됩니다. 이를 통해 현미경으로 찍은 이미지는 초점과 대비가 균일합니다. 이 현미경은 자동 샘플 획득, 이미지 왜곡 수정, 자동 대비 최적화 등 다양한 기능과 기능을 갖추고 있습니다 (영문). 또한 기본 제공되는 자동 초점 기능을 통해 이미지를 수집하면서 자주 조정할 수 있습니다. CM 10에는 SEM으로서의 기능 외에도 SEM-FIB (Field Ion Microscopy), STM (Scanning Tunneling Microscopy) 및 EDX (Energy-dispersive X-ray Spectroscopy) 로 작동 할 수있는 다양한 고급 모드가 장착되어 있습니다. 시스템. 이러한 이미징 모드는 고급 재료 연구 및 반도체 응용 분야에 필수적입니다. CM10 은 매우 다재다능하고 강력한 장치로, 광범위한 과학/산업 분야에 사용할 수 있습니다. 뛰어난 해상도, 다용도, 지능형 이미징 모드로, 이 고급 시스템은 모든 연구 실험실의 잠재력을 발휘할 수 있습니다.