판매용 중고 PHILIPS EM420 #9259729

필립스 EM420 (PHILIPS EM420) 은 전자의 집중 빔을 사용하여 물체의 자세한 이미지를 얻는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경 은 물체 를 실제 크기 의 15 만 배 나 확대 할 수 있으며, 이것 은 극히 작은 물체 의 상세 한 "이미징 '을 가능 하게 한다. 현미경은 열전자총을 사용하여 전자를 가속시키고 전자 빔을 만듭니다. 총은 필라멘탈, 음전압 발전기 및 양극/음극 렌즈 시스템으로 구성됩니다. 필라멘탈은 전류를 통과시켜 가열되고, 전자 방출은 양극/음극 렌즈 시스템 (anode/cathode lens system) 에 의해 집중된다. 전자는 래스터 (raster) 패턴의 샘플 서피스를 스캔하여 전체 이미지를 얻습니다. 방출 된 전자는 다른 방식으로 샘플 표면과 상호 작용합니다. 2 차 전자는 탐지기 (detector) 에 의해 방출 및 수집되며, 이는 사용자가 관찰 할 수있는 모니터의 신호로 신호를 변환합니다. 광자 들 도 방출 되는데, 이것 은 "샘플링 '을 관통 하여 전자 를 흥분 시켜" 이미지' 에 대조 를 이루는 데 사용 되고 탐지 되는 형광 신호 를 방출 할 수 있다. 필립스 EM405 (PHILIPS EM405) 에는 다양한 재료와 객체를 연구하기위한 훌륭한 장치가 있습니다. 가변 압력 시스템 (Variable Pressure System) 과 가스 응축 챔버 (Gas Condensation Chamber) 가 장착되어 이미징에 인공물이없는 진공 환경을 허용합니다. "마이크로스코프 '는 또한 여러 가지 목표 를 전환 할 때 자동적 으로 관리 하고 정렬 할 수 있어서," 이미징' 모드 간 의 전환 에 걸리는 시간 이 줄어든다. 이 기구 는 여러 가지 재료 와 물체 를 연구, 연구 하는 데 훌륭 한 도구 이다. 반도체, 금속, 폴리머, 도자기, 촉매, 에어로졸, 박막 분석, 표면 및 지형 연구 등에 대한 연구에 사용될 수 있습니다. 필립스 EM 420 (PHILIPS EM 420) 에서 얻은 이미지와 분석은 업계 및 과학에 귀중한 데이터를 제공합니다.