판매용 중고 PHILIPS CM20 FEG #9296445

PHILIPS CM20 FEG는 가장 까다로운 연구 요건을 충족하는 뛰어난 이미징 성능과 고급 분석 기능을 제공하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 시스템은 SEM 이미징 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS 또는 EDX) 에 사용되는 광범위한 분석 기술의 성능을 극대화하도록 설계되었습니다. CM20 FEG (Advanced Imaging and Analytical) 기능은 다양한 애플리케이션에 이상적인 기능입니다. FEG (Field Emission Gun) 소스를 사용하면 특정 조사를 위해 최적의 가속 전압 및 작업 거리를 선택할 수 있습니다. 특성화 이미지, 동영상 등을 생산하는 컬럼 내 표본 이동, 고품질 광학 및 고급 이미징 모드 (advanced imaging mode) 는 전자 현미경의 복잡한 요구 사항을 지원합니다. 고급 구성 분석을 위해 PHILIPS CM20 FEG에는 강력한 하드웨어, 강력한 오프라인 및 온라인 데이터 분석 유틸리티, 특화된 검출기로 구성된 EDS 시스템이 장착되어 있습니다. 이 기술을 통해 운영자는 배경을 신속하게 확보하고, 자동으로 인수 (acquisition) 매개변수를 조정하고, 높은 수준의 신뢰로 양적 (quantitative) 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 CM20 FEG 는 다양한 장비 (옵션) 와 주변 장치를 제공하여 애플리케이션 기능 범위를 확대합니다. 여기에는 침수 렌즈, 디지털 카메라 및 필름, 이미지 개선 및 분석, 저 진공 스터브, 샘플 히터 및 칠러, 샘플 조작기가 포함될 수 있습니다. 필립스 CM20 페그 (PHILIPS CM20 FEG) 는 신뢰할 수 있고 다양한 기구로 다양한 현미경 및 분석 기술에 적합합니다. '견고하고 강력한' 구성을 통해 사용자는 다양한 표본 조사 작업에서 최대의 성능을 얻을 수 있습니다. CM20 FEG (Optional Add-On Feages) 와 함께 고급 이미징 및 분석 장비를 사용하여 연구원들은 전례없는 세부 사항으로 샘플을 탐색 할 수 있습니다.