판매용 중고 PHENOMWORLD Phenom XL #293615050

PHENOMWORLD Phenom XL은 다양한 응용 프로그램에 고유 한 분석 기능을 제공하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 시스템은 다양한 스캐닝 (scanning) 기술을 활용하고 고급 수준의 다용성을 제공하여 최고 수준의 배율에서 정확한 자동 (automated) 분석을 가능하게 합니다. 페넘 XL (Phenom XL) 은 고휘도 전자 빔을 생성하기위한 FEG (field emission gun) 를 특징으로하여 더 깊은 장 및 고해상도 이미징을 가능하게한다. 또한, FEG 전자 소스는 전자 빔 밝기 및 품질을 극대화하고 더 빠른 획득 속도를 제공합니다. PHENOMWORLD Phenom XL의 일부 기능은 다음과 같습니다. 자동 감지 시스템 (Autodetect System) - 샘플을 자동으로 감지하고 최적의 이미지 품질을 위해 설정을 조정합니다. 자동화된 탐색 - 관심 영역을 자동으로 선택하고 검색합니다. 고급 이미징 모드 - 디지털 프레임 평균, 라인 스캔, 채널 조정 등의 다양한 이미징 기술을 활용합니다. 낮은 진공 탐지 - 낮은 진공 환경에서 입자와 이온을 탐지합니다. 디지털 검출기 자동 조정 (Auto calibrating digital detector) - 자동으로 검출기 뷰 필드를 샘플 모양과 크기로 조정합니다. 이미징 모드 선택 - 밝은 필드, 어두운 필드, 컴포지션 및 원소 이미징과 같은 이미징 모드 간에 전환합니다. 다중 방출 분광법 (Multi-emission spectroscopy) - 물질을 연구하기 위해 가속 전자의 에너지 분포를 측정합니다. 자동 빔 정렬 (Automated beam alignment) - 빔 변형, 드리프트 및 잘못된 정렬을 자동으로 감지하여 빔 정확도를 향상시킵니다. 자동 빔 스캔 - 사용자 개입 없이 자동으로 관심 영역을 스캔합니다. 자동 분석 (Automated analysis) - 알갱이 크기와 구형 측정뿐만 아니라 통계적 수학적 계산도 자동으로 수행합니다. 자동 샘플 스테이징 (Automated sample staging) - 다른 영역을 선택하고 초점을 맞추기 위해 샘플 단계를 이동합니다. Phenom XL은 재료 과학, 미생물 연구, 미생물 고장 분석, 반도체 결함 분석 등 다양한 응용 분야에 이상적인 도구입니다. 고해상도 이미징, 자동 분석, 고급 이미징 기술을 위한 최고의 솔루션을 제공합니다. 고급 사용자 인터페이스 (Advanced User Interface), 자동 스테이지 제어 (Automated Stage Control), 뛰어난 화질 (Image Quality) 등이 포함되어 있어 까다로운 워크플로우에 적합합니다.