판매용 중고 LEO / ZEISS Supra 55 #293699912
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ID: 293699912
Scanning Electron Microscope (SEM)
Computer
Monitor
Does not include pump
Non-functional parts:
Scan generator
Motor
Keyboard
Load lock
Controller.
LEO/ZEISS Supra 55는 뛰어난 이미징 기능, 다양한 기능 및 사용자 친화적 인 인터페이스로 유명한 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. LEO Electron Microscopy와 ZEISS의 협력으로 개발 된이 고급 기기는 재료 과학, 나노 기술, 생명 과학 등의 다양한 응용 분야에 대한 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 제공하도록 설계되었습니다. 레오 수프라 55 (LEO Supra 55) 의 중심에는 혁신적인 전자 기둥이 있으며, 이는 샘플 표면과 상호 작용하는 고에너지 전자 빔을 생성하여 나노 미터 스케일 해상도에서 상세한 영상 및 분석을 가능하게합니다. FEG (Field Emission Gun) 를 갖춘 SEM은 뛰어난 밝기 및 안정성을 제공하여 뛰어난 선명도를 가진 미세한 표면 세부 사항 및 구조를 시각화 할 수 있습니다. 이 기기는 전도성 재료 (conductive materials) 에서 전도성 (non-conductive) 샘플에 이르기까지 다양한 샘플을 수용하는 다목적 챔버 설계를 특징으로하며, 영상 품질을 향상시키기 위해 얇은 전도성 레이어로 코팅이 필요할 수 있습니다. 이 챔버 (Chamber) 에는 정밀한 샘플 포지셔닝, 간편한 탐색, 효율적인 데이터 수집 및 분석을 보장하는 동력 단계 (Motorized Stage) 가 장착되어 있습니다. ZEISS Supra 55에는 2 차 전자 (SE), 역 산란 전자 (BSE) 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기를 포함한 여러 이미징 모드 및 검출기가 장착되어 종합적인 샘플 특성화와 원소 분석을 가능하게합니다. SE 검출기는 표면 지형 및 형태의 고해상도 이미징에 이상적이며, BSE 검출기는 샘플의 원자 수 (atomic number) 요소를 기준으로 대조를 제공합니다. 이미징 기능 외에도, SEM은 원소 매핑 및 화학 조성 분석을위한 EDS (EDS for Elemental Mapping) 를 포함한 고급 분석 기능을 제공합니다. EDS 시스템은 기기에 통합되어 SEM 소프트웨어 내에서 데이터를 원활하게 수집, 분석할 수 있습니다. 이 기능은 표본 내의 원소 분포를 연구하고 특정 화학 성분을 식별하는 데 특히 유용합니다. Supra 55에는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 운영 및 데이터 분석을 간소화하는 고급 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 기기 설정, 이미징 모드, 분석 도구 (analytical tools) 를 손쉽게 탐색할 수 있으므로 초보자 사용자와 숙련된 연구원이 모두 액세스할 수 있습니다. 또한 고급 이미지 처리/분석 툴을 통해 SEM 이미지에서 정량적 데이터를 추출하고 자세한 보고서를 생성할 수 있습니다 (영문). 또한 SEM 은 자동 이미징 루틴, 멀티샘플 이미징 (multi-sample) 기능, 원격 작업 옵션 등의 기능을 통해 생산성 및 효율성 향상을 위해 설계되었습니다. 이러한 기능을 통해 사용자는 워크플로우를 간소화하고, 기기 활용도를 극대화하고, 다른 지역의 동료들과 효과적으로 협력할 수 있습니다. 전반적으로 LEO/ZEISS Supra 55 SEM은 최첨단 이미징 기술, 다목적 기능 및 사용자 친화적 인 디자인을 결합하여 연구원들에게 나노 스케일 (nanoscale) 에서 다양한 샘플을 탐색하고 분석하는 데 필요한 도구를 제공합니다. 재료 특성, 생물학적 샘플을 조사하거나, 원소 분석을 수행하든지 간, 이 고급 도구는 다양한 과학 응용 분야에 대한 탁월한 성능과 다재다능성을 제공합니다.
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