판매용 중고 LEO / ZEISS 435VP #293771091

LEO/ZEISS 435VP는 Carl LEO Corporation에서 제조 한 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 이미징 시스템 (advanced imaging system) 은 생물학적 표본에서 재료 과학 샘플에 이르기까지 다양한 샘플의 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 및 분석을위한 뛰어난 기능을 연구자와 과학자에게 제공하도록 설계되었습니다. LEO 435VP의 중심에는 영상 및 분석을위한 고도로 집중된 전자 빔을 생성하는 필드-방출 전자 건 (field-emission electron gun) 이 있습니다. 이 전자 빔 (electron beam) 은 샘플의 표면을 가로 질러 스캔되며, 전자와 샘플 사이의 상호 작용은 검출되어 인상적인 선명도와 디테일을 가진 고해상도 (high-resolution) 이미지를 생성하는 데 사용되는 신호를 생성합니다. ZEISS 435VP (ZEISS 435VP) 의 주요 특징 중 하나는 매우 높은 확대 수준을 달성 할 수있는 능력으로, 연구원들이 나노 스케일 수준에서 샘플을 탐색 할 수 있습니다. 최대 1,000,000배까지 확장할 수 있는 이 SEM (영문) 은 경이로운 정밀도로 샘플의 세부 사항을 조사할 수 있게 해 줍니다. 435VP는 높은 확대 기능 외에도 다양한 연구 응용프로그램에 적합한 다양한 이미징 (imaging) 모드와 기술을 제공합니다. 여기에는 2 차 전자 영상, 역 산란 전자 영상 및 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 이 포함됩니다. 이 시스템은 또한 고품질 이미징 및 분석 결과를 보장하기 위해 고급 탐지기 (Advanced Detector) 및 신호 처리 기술을 갖추고 있습니다. LEO/ZEISS 435VP는 사용자가 친숙한 인터페이스와 직관적인 소프트웨어를 제공하여 연구원들이 현미경을 쉽게 제어하고, 이미지를 획득하고, 정교한 분석을 수행할 수 있도록 합니다. 이 시스템은 다양한 연구 응용 프로그램을 지원하기 위해 이미지 스티칭 (image stitching), 자동 측정 (automated measurements), 3D 재구성 (3D reconstruction) 과 같은 다양한 이미지 및 분석 도구를 제공합니다. 또한, LEO 435VP에는 가변 압력 기능이 장착되어 있으며, 이를 통해 연구자들은 특별한 샘플 준비 기법 없이 비전도 또는 수화 된 샘플을 상상 할 수 있습니다. 이 기능은 현미경의 다양성을 확장하고, 사용자가 더 다양한 샘플을 쉽게 이미지화할 수 있게 해 줍니다 (영문). 또한 ZEISS 435VP (Versonility and Flexibility) 기능을 향상시키기 위해 다양한 액세서리 (옵션) 및 업그레이드가 제공됩니다. 여기에는 제어 온도 및 습도 조건에서 샘플을 이미징하기위한 환경 챔버 (environmental chamber) 와 동적 연구를위한 현장 실험 (in situ experimation) 기능이 포함됩니다. 전반적으로, 435VP 주사 전자 현미경은 광범위한 연구 분야에서 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 및 분석을위한 강력하고 다양한 도구입니다. 고급 기능, 사용자 친화적 인 인터페이스, 뛰어난 이미징 성능을 갖춘 이 SEM (영상) 은 탁월한 선명도와 디테일로 마이크로나 나노스케일 (Nanoscale) 세계를 탐험하려는 연구원들에게 귀중한 자산입니다.