판매용 중고 LEO / ZEISS 430i #9407378

LEO/ZEISS 430i SEM (Scanning Electron Microscope) 은 고성능 듀얼 빔 FIB/SEM 이미징 장비입니다. 업계 최고의 해상도와 나노 스케일 (nanoscale) 구조를 이미지와 조작하는 기능을 결합한 LEO 430i SEM은 광범위한 재료 분석 응용 프로그램을 용이하게합니다. 고화질 (High-Definition) 열을 통해 이미징 기능을 1 나노미터 (Nanometer) 의 해상도까지 높일 수 있으며, 고급 고출력 음극/양극 듀얼 빔 시스템을 통해 매우 작은 개체의 고급 특성화와 조작을 위한 다중 모드 작동이 가능합니다. SEM 열은 다양한 샘플 (size) 및 유형으로 작업하는 데 필요한 유연성을 제공하면서 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 을 용이하게 하도록 설계되었습니다. ZEISS 430i에는 2 차 전자 (SE) 검출기, BSE (back scattered electron) 검출기 및 필드 방출 총을 갖춘 화학 분석 검출기가 장착되어 빠른 영상을 제공합니다. GIS (gas injection unit) 가 포함되어 있어, 필요에 따라 이미징 및 조작 중에 기능 가스를 도입 할 수 있습니다. 430i의 다중 모드 작동은 VP/LV (Variable Pressure/Low Vacuum) 구성으로 활성화됩니다. 즉, 환경을 조작하여 고해상도 이미징을 가능하게 하는 Hard-to-Image 자료의 고급 특성화가 가능합니다. LV 모드는 더 높은 진공에서 더 큰 전자 용량이 필요한 더 두꺼운 단면을 가진 미립자, 느린 배수 필름 또는 필름 (film) 을 이미징 할 수있는 저에너지 환경을 제공합니다. LEO/ZEISS 430i에는 360도 회전 단계 및 평면 내 및 평면 외 조작이있는 6 축 샘플 스테이지가 제공되어 특정 관심 영역을 쉽게 이미징 및 조작할 수 있습니다. 또한 자동 초점 (auto focus), 자동 낙인 찍기 (auto stigmation) 및 자동 노출 (auto exposure) 과 같은 다양한 제어 모드가 제공되므로 사용자가 이미징 환경을 완벽하게 제어할 수 있습니다. LEO 430i 는 다양한 자동 샘플 처리 시스템과 통합되어 더욱 뛰어난 유연성을 제공합니다. 요약하면, LEO 430iScanning Electron Microscope는 고해상도 이미징 및 나노 스케일 물체의 조작을 제공 할 수있는 강력한 듀얼 빔 FIB/SEM 이미징 머신입니다. 첨단 열 (column) 과 GIS (GIS) 도구를 통해 다양한 재료에 대한 이미징 환경을 조작할 수 있으며, 제어 모드 (control mode) 와 자동 샘플 처리 시스템 (automated sample handling system) 은 모든 분석 응용 프로그램에 필요한 유연성을 제공합니다.